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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 3/2005

01.06.2005

An On-Chip Spectrum Analyzer for Analog Built-In Testing

verfasst von: Marcia G. Méndez-Rivera, Alberto Valdes-Garcia, Jose Silva-Martinez, Edgar Sánchez-Sinencio

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 3/2005

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Metadaten
Titel
An On-Chip Spectrum Analyzer for Analog Built-In Testing
verfasst von
Marcia G. Méndez-Rivera
Alberto Valdes-Garcia
Jose Silva-Martinez
Edgar Sánchez-Sinencio
Publikationsdatum
01.06.2005
Verlag
Kluwer Academic Publishers
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 3/2005
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-005-6351-y

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