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Erschienen in: Journal of Materials Science 21/2011

01.11.2011

Fracture behavior of Cu-cored solder joints

verfasst von: Yunsung Kim, Hyelim Choi, Hyoungjoo Lee, Dongjun Shin, Jeongtak Moon, Heeman Choe

Erschienen in: Journal of Materials Science | Ausgabe 21/2011

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Abstract

Copper-cored solder can be regarded as the next-generation solder for microelectronic semiconductors exposed to harsh operating conditions owing to its excellent sustainability under extreme thermal conditions, e.g., in microelectronic semiconductors used in transportation systems. Cu-cored solder joints with two different coating layers, Sn–3.0Ag and Sn–1.0In, were compared with the baseline Sn–3.0Ag–0.5Cu solder. The fracture strength and failure mode were examined using the high-speed ball-pull and normal-speed shear tests. The Cu-cored solder joint with the Sn–1.0In plating layer exhibited the highest ball-pull and shear strengths. In addition, it showed a much lower percentage of interface fracture between the Cu-core and plating layer than the interface fracture percentage in the Sn–3.0Ag plating layer due to the improved wettability between the Cu-core and Sn–1.0In plating layer.

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Metadaten
Titel
Fracture behavior of Cu-cored solder joints
verfasst von
Yunsung Kim
Hyelim Choi
Hyoungjoo Lee
Dongjun Shin
Jeongtak Moon
Heeman Choe
Publikationsdatum
01.11.2011
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science / Ausgabe 21/2011
Print ISSN: 0022-2461
Elektronische ISSN: 1573-4803
DOI
https://doi.org/10.1007/s10853-011-5654-x

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