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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 12/2008

01.12.2008

Surface modification and characterization of indium–tin oxide for organic light-emitting devices

verfasst von: L. Li, J. S. Yu, S. L. Lou, W. Z. Li, Y. D. Jiang, W. Li

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 12/2008

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Abstract

We used various treatment methods such as ethanol treatment, sodium hydroxide solution treatment, sulfur acid treatment, and oxygen plasma treatment to modify the surface of indium–tin oxide (ITO) substrates for organic light-emitting devices (OLEDs). The surface properties of the treated ITO substrates were characterized by atomic force microscopy (AFM), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), contact angle, surface energy measurements, four-point probe, X-ray Diffraction (XRD) and ultraviolet-visible spectrophotometer. The results showed that the ITO surface properties were closely related to the treatment methods, and the oxygen plasma is more efficient than other treatments as it leads to smoother surface, better surface stoichiometry, higher work function and surface energy, lower sheet resistance, and higher transmission of the ITO substrates. Moreover, small molecular organic light-emitting devices (SMOLEDs) using different treated ITO substrates as anodes were fabricated and investigated. It was found that surface treatment of ITO substrates has influence upon the injection current, the turn-on voltages of light emission, luminance, efficiency and lifetime. Oxygen plasma treatment on the ITO substrate yields the highest performance of SMOLEDs due to the improvement of interface formation and electrical contact of the ITO substrate with the small molecular material blend in the SMOLEDs.

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Metadaten
Titel
Surface modification and characterization of indium–tin oxide for organic light-emitting devices
verfasst von
L. Li
J. S. Yu
S. L. Lou
W. Z. Li
Y. D. Jiang
W. Li
Publikationsdatum
01.12.2008
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 12/2008
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-007-9545-5

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