Skip to main content
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 4/2010

01.04.2010

Structural investigations of some bismuth–borate–vanadate glasses doped with gadolinium ions

verfasst von: Petru Pascuta

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 4/2010

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

X-ray diffraction (XRD), Fourier transform infrared (FTIR) and electron paramagnetic resonance (EPR) spectroscopies have been employed to investigate the xGd2O3 · (95 − x)[2Bi2O3 · B2O3] · 5V2O5 glass system, with 0 ≤ x ≤ 25 mol%. The glass samples have been prepared by melting at 1,100 °C for 10 min followed by rapid cooling at room temperature. The structure of samples was analyzed by means of XRD. The pattern obtained did not reveal any crystalline phase in the samples up to 25 mol%. FTIR spectroscopy data suggest that the gadolinium ions play the network modifier role in the studied glasses. These data show that the glass network consists of BiO3, BiO6, BO3, BO4, and VO4 structural units. The FTIR data show that a conversion among these units takes place and this process mainly depends on the Gd2O3 content. The EPR spectra of the studied glasses exhibit three important features with effective g-values of ≈5.9, 2.85, 2.0 and a weaker feature at g eff ≈ 4.8. For low Gd2O3 contents (x ≤ 10 mol%), the EPR spectra have the typical ‘‘U’’-type shape. For higher contents of Gd2O3 (x > 10 mol%), the spectral features are broadened and finally are dominated by a single broad absorption line located at g eff ≈ 2.0. This broad EPR line is associated to the Gd3+ ions present predominantly as clustered species.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Literatur
7.
Zurück zum Zitat J. Wong, C.A. Angell, Glass structure by spectroscopy (M. Dekker, Inc., New York, 1976), p. 430 J. Wong, C.A. Angell, Glass structure by spectroscopy (M. Dekker, Inc., New York, 1976), p. 430
13.
Zurück zum Zitat V. Timar, I. Ardelean, J. Optoelectron, Adv. Mater. 9, 613 (2007) V. Timar, I. Ardelean, J. Optoelectron, Adv. Mater. 9, 613 (2007)
15.
Zurück zum Zitat I. Ardelean, V. Timar, Phys. Chem. Glasses: Eur. J. Glass Sci. Technol. B. 49, 46 (2008) I. Ardelean, V. Timar, Phys. Chem. Glasses: Eur. J. Glass Sci. Technol. B. 49, 46 (2008)
16.
Zurück zum Zitat H.P. Klug, L.E. Alexander, X-ray diffraction procedures (Wiley, New York, 1970), p. 632 H.P. Klug, L.E. Alexander, X-ray diffraction procedures (Wiley, New York, 1970), p. 632
Metadaten
Titel
Structural investigations of some bismuth–borate–vanadate glasses doped with gadolinium ions
verfasst von
Petru Pascuta
Publikationsdatum
01.04.2010
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 4/2010
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-009-9917-0

Weitere Artikel der Ausgabe 4/2010

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 4/2010 Zur Ausgabe

Neuer Inhalt