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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 5/2014

01.05.2014

Microstructure and interfacial reaction of Sn–Zn–x(Al,Ag) near-eutectic solders on Al and Cu substrates

verfasst von: M. L. Huang, X. L. Hou, N. Kang, Y. C. Yang

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 5/2014

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Abstract

Sn–Zn–x(Al,Ag) near-eutectic solders, namely Sn–8.3Zn–0.73Ag, Sn–8.4Zn–0.44Al and Sn–7.4Zn–0.26Al–0.68Ag (in wt%) with melting points of 200.74, 198.00 and 197.32 °C, respectively, as well as the Sn–9Zn eutectic solder, were used to join Al and Cu substrates. The addition of Ag led to the formation of dendritic AgZn3 phases, while the addition of Al obviously refined the microstructure of Sn–Zn eutectic, as well as the AgZn3 phases. The Sn–Zn–Al solder possessed the best wettability on both Cu and Al substrates among the four solders. Al4.2Cu3.2Zn0.7 intermetallic compound (IMC) layers formed at the Sn–Zn–x(Al,Ag)/Cu interfaces while Al-rich (Zn) solid solutions at the Sn–Zn–x(Al,Ag)/Al interfaces of all the as-soldered joints. The shear strength of the Al/Sn–Zn–Al/Cu solder joints was the highest among the four solder joints. The declining degree of the shear strength of the Sn–Zn–x(Al,Ag) solder joints in 3.5 % NaCl solution was in agreement with the corrosion-resistance order of the bulk solders. The Al/Sn–Zn–Ag/Cu joint thus owned the best corrosion resistance.

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Metadaten
Titel
Microstructure and interfacial reaction of Sn–Zn–x(Al,Ag) near-eutectic solders on Al and Cu substrates
verfasst von
M. L. Huang
X. L. Hou
N. Kang
Y. C. Yang
Publikationsdatum
01.05.2014
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 5/2014
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-014-1877-3

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