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Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 3/2019

02.01.2019

Structural, optical and charge density analysis of Al doped ZnO Materials

verfasst von: D. Sivaganesh, S. Saravanakumar, V. Sivakumar, K. S. Syed Ali, Esther Akapo, Ezra Alemayehu, R. Rajajeyaganthan, R. Saravanan

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 3/2019

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Abstract

The hexagonal structured Zn1−xAlxO (x = 0.00, 0.04, 0.06, 0.08 and 0.10) materials was synthesized by co-precipitation method. Structural, morphological and photoluminescence properties of Al doped ZnO powders were investigated by powder X-ray diffraction, scanning electron microscopy and photoluminescence characterizations, respectively. Structural analysis was done by Rietveld refinement technique. The spherical shaped morphology was observed in ZnO:Al powders. The bonding features were analyzed by using electron density distribution studies and the photoluminescence properties of Zn1−xAlxO (x = 0.00, 0.04, 0.06, 0.08 and 0.10) was also revealed.
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Literatur
1.
C.F. Klingshirn, B.K. Mayer, A. Waag, A. Hoffmann, J. Gents, Zinc oxide: from fundamental properties towards novel applications (Springer, Heidelberg Dorderecht London, 2010), pp. 1–351
2.
X.W. Sun, Z.J. Liu, Q.F. Chen, H.W. Lu, T. Song, C.W. Wang, Solid State Commun. 140, 219 (2006)CrossRef
3.
4.
M. Willander, O. Nur, Q.X. Zhao, L.L. Yang, M. Lorenz, Nanotechnology. 20, 332001 (2009)CrossRef
5.
S.J. Pearton, D.P. Norton, Y.W. Heo, L.C. Tien, M.P. Irill, Y. Li, B.S. Kang, F. Ren, J. Kelly, A.F. Hebard, J. Electron. Mater. 35, 862 (2006)CrossRef
6.
M. Godlewski, K. Kopalko, G. Luka, M.I. Lukasiewiez, T. Krajewski, B.S. Witowski, S. Gieraltowska, J. Low Temp. Phys. 37, 235 (2011)CrossRef
7.
R. Murugan, T. Woods, P. Fleming, D. Sullivan, S. Ramakrishna, B.P. Ramesh, Mater. Lett. 128, 404 (2014)CrossRef
8.
I.G. Dimitrov, A.O. Dikovska, P.A. Atanasov, T.R. Stoyanchov, T. Vasilev, J. Phys. Conf. Ser. 133, 012044 (2008)CrossRef
9.
E. Environ, J. Huang, Q. Zheng, Environ. Sci. 4, 3861 (2011)
10.
11.
V. Gandhi, R. Ganesan, H. Hameed, A. Syedahamed, M. Thaiyan, J. Phys. Chem. 118, 9715 (2014)
12.
P.K. Labhane, V.R. Huse, L.B. Patle, A.L. Chaudhari, G.H. Sonawane, J. Chem. Eng. Mater. Sci. 3, 39 (2015)
13.
14.
L. Xu, Y. Su, Y. Chen, H. Xiao, L. Zhu, Q. Zhon, L. Sen, J. Phys. Chem. B. 110, 6637 (2006)CrossRef
15.
R.K. Sharma, S. Patel, K.C. Pargaien, Adv. Nat. Sci.: Nanosci. Nanotechnol. 3, 035005 (2012)
16.
R.S. Kumar, S.H. Dananjaya, D. Zoysa, M. Yang, RSC Adv. 6, 108468 (2016)CrossRef
17.
S. Sakthivel, V. Baskaran, Nano Vis. 5(7–9), 283 (2015)
18.
A.R. Rashid, P.S. Menon, S. Shaari, J. Nonlinear. Opt. Phys. Mater. 22(3), 1350037 (2013)CrossRef
19.
R. Yoo, S. Cho, M. Song, W. Lee, Sens. Actuators B Chem. 221, 217 (2015)CrossRef
20.
21.
H. Jung, J. Hyun, S. Soo, S. Soo, G. Dae, J. Ind. Eng. Chem. 25, 199 (2014)
22.
23.
S. Ridhuan, Z. Lockman, A.A. Aziz, K.A. Razak, J. Mater. Sci. Forum. 846, 459 (2016)CrossRef
24.
H. Damm, A. Kelchtermans, A. Bersha, F.V. Broeck, K. Elen, J.C. Martins, R. Carleer, J.D. Hean, C.D. Dobbelaere, J. Hadermann, T. Harlyt, M.K. Bael, RSC Adv. 3, 23745 (2013)CrossRef
25.
International Centre of Diffraction, Data 1996 Powder Diffraction File, JCPDS File No 00-036-1451
26.
27.
28.
29.
V. Petricek, D.M. Palatinus, L. Jana, The Crystallographic Computing System (Institute of Physics, Praha, 2006)
30.
31.
N. Wu, The Maximum Entropy Method (Springer, Berlin Heidelberg, 1997), pp. (1–334)
32.
R. Saravanan, Y. Ono, M. Isshiki, K. Ohmo, T. Kajitani, J. Phys. Chem. Solids 63, 51 (2003)CrossRef
33.
K.S.S. Ali, R. Saravanan, S. Israel, M. Açlkgöz, L. Arda, Phys. B 405, 1763 (2010)CrossRef
34.
K. Momma, T. Ikeda, A.A. Belik, F.D. Izumi, A Computer Program for Maximum-Entropy Method (MEM) Analysis and Its Performance in the MEM-Based Pattern Fitting (Cambridge University Press, Cambridge, 2013), pp. 1–10
35.
36.
S. Saravanakumar, U. Pal, R.J. Aranda, R. Saravanan, J. Mater. Sci. 49, 5529 (2014)CrossRef
Metadaten
Titel
Structural, optical and charge density analysis of Al doped ZnO Materials
verfasst von
D. Sivaganesh
S. Saravanakumar
V. Sivakumar
K. S. Syed Ali
Esther Akapo
Ezra Alemayehu
R. Rajajeyaganthan
R. Saravanan
Publikationsdatum
02.01.2019
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 3/2019
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-018-00574-5

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