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Journal of Electronic Testing

Erschienen in:

01.02.2000

Oscillation Ring Delay Test for High Performance Microprocessors

verfasst von: Wen Ching Wu, Chung Len Lee, Ming Shae Wu, Jwu E. Chen, Magdy S. Abadir

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 1-2/2000

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Titel: Oscillation Ring Delay Test for High Performance Microprocessors
verfasst von: Wen Ching Wu
Chung Len Lee
Ming Shae Wu
Jwu E. Chen
Magdy S. Abadir
Publikationsdatum: 01.02.2000
Verlag: Kluwer Academic Publishers
Erschienen in: Journal of Electronic Testing / Ausgabe 1-2/2000
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI: https://doi.org/10.1023/A:1008365428314

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