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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 9/2021

14.04.2021

Luminescence Studies of rare-earth Ce3+ and Dy3+ doped SrAl2O4 aluminate phosphors

verfasst von: Riya Neema, M. Saleem, P. K. Sharma, M. Mittal

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 9/2021

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Abstract

The rare-earth doped Sr0.96Ce0.04-xDyxAl2O4 [x = 0.03, 0.02, 0.01] aluminate phosphors synthesized by the high temperature solid-state reaction route are reported in this work. The phosphors under investigation were characterized for the structural and luminescence properties. The structural studies were carried out exploiting X-ray diffraction, Raman scattering technique, and the Fourier transform infrared spectroscopy. The optical study of the phosphors under observation comprises UV–Vis, thermoluminescence, and photoluminescence studies. The XRD results of these materials on analysis revealed that the samples exhibit double phase where dominating phase is that of desired Sr0.96Ce0.04-xDyxAl2O4 [x = 0.03, 0.02, 0.01] phosphors with trace of secondary phase arising from unreacted SrCO3. The Sr0.96Ce0.04-xDyxAl2O4 [x = 0.03, 0.02, 0.01] aluminates have acquired the monoclinic phase (P1 21 n) and SrCO3 was found to have crystalized into the orthorhombic (Pmcn) phase. The characteristic Raman band at around ≈ 460 cm−1 for Sr0.96Ce0.01Dy0.03Al2O4 phosphor conveys the monoclinic structure in the sample. The UV–Vis spectral studies revealed the optical bandgap around 3 eV. Thermoluminescence study inferred the optimum intensity for 25-min exposure to the excitation radiation with higher intensity for x = 0.02 (Dy/Ce) concentration. The photoluminescence studies revealed the emission in the blue region for x = 0.03 and 0.02 confirmed from the CIE coordinate values and near red emission in the higher concentrated Ce3+ ions.

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Metadaten
Titel
Luminescence Studies of rare-earth Ce3+ and Dy3+ doped SrAl2O4 aluminate phosphors
verfasst von
Riya Neema
M. Saleem
P. K. Sharma
M. Mittal
Publikationsdatum
14.04.2021
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 9/2021
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-021-05862-1

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