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Erschienen in:
1987 | OriginalPaper | Buchkapitel
New Trends in VLSI Testing
verfasst von : G. Saucier, C. Bellon, M. Crastes De Paulet
Erschienen in: VLSI CAD Tools and Applications
Verlag: Springer US
Enthalten in: Professional Book Archive
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Test data generation for complex integrated circuits or today printed circuits requires an hierarchical approach including the possibility of using diversified types of descriptions (behavioral, functional, structural) as well as diversified test generation methods for elementary blocks.