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Erschienen in: Science China Technological Sciences 8/2009

01.08.2009

Optical characterization of ZnO thin films deposited by RF magnetron sputtering method

verfasst von: Ning Tang, JinLiang Wang, HengXing Xu, HongYong Peng, Chao Fan

Erschienen in: Science China Technological Sciences | Ausgabe 8/2009

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Metadaten
Titel
Optical characterization of ZnO thin films deposited by RF magnetron sputtering method
verfasst von
Ning Tang
JinLiang Wang
HengXing Xu
HongYong Peng
Chao Fan
Publikationsdatum
01.08.2009
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Erschienen in
Science China Technological Sciences / Ausgabe 8/2009
Print ISSN: 1674-7321
Elektronische ISSN: 1869-1900
DOI
https://doi.org/10.1007/s11431-009-0230-1

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