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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 12/2013

01.12.2013

Opto-structural and electrical properties of chemically grown Ga doped MoBi2Se5 thin films

verfasst von: S. V. Patil, R. M. Mane, N. B. Pawar, S. D. Kharade, S. S. Mali, P. S. Patil, G. L. Agawane, J. H. Kim, P. N. Bhosale

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 12/2013

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Abstract

An arrested precipitation route was developed to obtain gallium doped MoBi2Se5 thin films on substrate support. High purity organometallic complexes of Mo–triethanolamine (Mo–TEA), Bi–triethanolamine (Bi–TEA), Ga–triethanolamine (Ga–TEA) allow to react with sodium selenosulphite (Na2SeSO3) in the presence of sodium dithionite (Na2S2O4) as a reducing agent in an aqueous alkaline reaction bath. As deposited thin films were characterized by X-ray diffraction, which reveals that material is nanocrystalline with mixed phases of rhombohedral (Bi2Se3)-hexagonal (MoSe2)-hexagonal (GaSe) structures. Scanning electron micrographs show the grain of granular morphology decreases with increase in Ga concentration. Energy dispersive x-ray analysis shows presence of Mo, Bi, Ga and Se elements in stoichiometric ratio confirms the chemical formula MoBiGaSe5. Optical absorbance of the films show direct allowed transition in visible region having band gap energy in the range of 1.30–1.47 eV. Thermoelectric power and electrical conductivity measurements have been carried out for thin film samples in the temperature range 300–500 K and results revealed that n-type semiconducting behavior. It is interesting to note that Ga doping in MoBi2Se5 changes n to p type conductivity.

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Metadaten
Titel
Opto-structural and electrical properties of chemically grown Ga doped MoBi2Se5 thin films
verfasst von
S. V. Patil
R. M. Mane
N. B. Pawar
S. D. Kharade
S. S. Mali
P. S. Patil
G. L. Agawane
J. H. Kim
P. N. Bhosale
Publikationsdatum
01.12.2013
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 12/2013
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-013-1449-y

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