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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 12/2013

01.12.2013

Impedance spectroscopy study of TiO2 addition on the ceramic matrix Na2Nb4O11

verfasst von: M. C. Romeu, R. G. M. Oliveira, A. J. M. Sales, P. M. O. Silva, J. M. S. Filho, M. M. Costa, A. S. B. Sombra

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 12/2013

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Abstract

In this paper a study of TiO2 addition (0, 2, 5 and 10 wt%) and its effects in the impedance spectra of Na2Nb4O11 ceramic matrix was carried out. The structural, dielectric properties of the addition in the Na2Nb4O11 matrix were discussed. In the preliminary structural studies, X-ray diffractograms of the samples were recorded at room temperature with X-ray diffractometer with Cu-kα. The Rietveld refinement method was used and confirmed the monoclinic structure for pure sample. A study based on complex impedance spectroscopy was carried and the dielectric properties were obtained over a frequency range (100 Hz–1 MHz) in room temperature (300 K). In the dielectric analysis at 1 MHz was observed relative permittivity of 99.46 for pure sample and 84.37 to sample added with 5 wt% of TiO2, those samples showed losses 3.55 × 10−2 and 9.22 × 10−2, respectively. In relation to relaxation phenomenon, Cole–Cole function was used for fitting pure and added samples data.

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Metadaten
Titel
Impedance spectroscopy study of TiO2 addition on the ceramic matrix Na2Nb4O11
verfasst von
M. C. Romeu
R. G. M. Oliveira
A. J. M. Sales
P. M. O. Silva
J. M. S. Filho
M. M. Costa
A. S. B. Sombra
Publikationsdatum
01.12.2013
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 12/2013
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-013-1514-6

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