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Journal of Electronic Testing

Erschienen in:

15.12.2020

Proton Beam Validation of a New Single Event Transient Mitigation Technique

verfasst von: Farouk Smith

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 6/2020

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A single event transient (SET) filtering technique for non-volatile field programmable gate arrays (FPGAs) are investigated experimentally using the AND-OR-Multiplexer SET filter technique. The technique combines AND – OR gate circuits in parallel with a two input multiplexer to provide a single circuit that can dissipate SETs irrespective of whether the input state is high or low. This paper presents the results of the experimental investigation, with the SET filter applied to various sequential circuit configurations in a commercial Flash-based FPGA, the 0.13-μm ProASIC3E product family (A3PE), by proton beam irradiation. Their implementation and evaluation in-beam show their efficiency in eliminating SETs and single event upsets (SEU) compared to unmitigated designs.

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Titel: Proton Beam Validation of a New Single Event Transient Mitigation Technique
verfasst von: Farouk Smith
Publikationsdatum: 15.12.2020
Verlag: Springer US
Erschienen in: Journal of Electronic Testing / Ausgabe 6/2020
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI: https://doi.org/10.1007/s10836-020-05917-x

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