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2018 | OriginalPaper | Buchkapitel

86. Resonant Inelastic X-Ray Scattering

verfasst von : Yoshihisa Harada

Erschienen in: Compendium of Surface and Interface Analysis

Verlag: Springer Singapore

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Abstract

In the RIXS process, a core electron of a particular element is resonantly excited to an unoccupied state by a monochromatized incident X-ray, which is a process called X-ray absorption (XAS).

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Literatur
1.
Tokushima, T., Harada, Y., Takata, Y., Sodeyama, K., Tsuneyuki, S., Nagasono, M., Kitajima, Y., Tamenori, Y., Ohashi, H., Hiraya, A., Shin, S.: σ-bonding contribution of a strong π-acceptor molecule: Surface chemical bond of SO2 on Ni(100). Phys. Rev. B 78, 085405/1–085405/5 (2008)
2.
Yamashita, Y., Yamamoto, S., Mukai, K., Yoshinobu, J., Harada, Y., Tokushima, T., Takeuchi, T., Takata, Y., Shin, S., Akagi, K., Tsuneyuki, S.: Direct observation of site-specific valence electronic structure at the SiO2/Si interface. Phys. Rev. B 73, 045336/1-045336/4 (2006)
Metadaten
Titel
Resonant Inelastic X-Ray Scattering
verfasst von
Yoshihisa Harada
Copyright-Jahr
2018
Verlag
Springer Singapore
Buch
Compendium of Surface and Interface Analysis

Print ISBN: 978-981-10-6155-4

Electronic ISBN: 978-981-10-6156-1

Copyright-Jahr: 2018

DOI
https://doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_86

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