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21.10.2016 | Ausgabe 5/2017

RSM Base Study of the Effect of Argon Gas Flow Rate and Annealing Temperature on the [Bi]:[Te] Ratio and Thermoelectric Properties of Flexible Bi-Te Thin Film

Zeitschrift:: Journal of Electronic Materials > Ausgabe 5/2017

Autoren:: Pilaipon Nuthongkum, Aparporn Sakulkalavek, Rachsak Sakdanuphab

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Titel: RSM Base Study of the Effect of Argon Gas Flow Rate and Annealing Temperature on the [Bi]:[Te] Ratio and Thermoelectric Properties of Flexible Bi-Te Thin Film
Autoren:: Pilaipon Nuthongkum
Aparporn Sakulkalavek
Rachsak Sakdanuphab
Publikationsdatum: 21.10.2016
DOI: https://doi.org/10.1007/s11664-016-5024-1
Verlag: Springer US
Zeitschrift: Journal of Electronic Materials
Ausgabe 5/2017
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X

Version: 0.988.0