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Erschienen in:

2018 | OriginalPaper | Buchkapitel

5. Scanning Electron Microscope (SEM) Instrumentation

verfasst von : Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy

Erschienen in: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Verlag: Springer New York

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Why worry about electron optical parameters?

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Glass lenses and transmission electron microscope lenses also have a related property known as depth-of-focus, a term that is often confused with depth-of-field. Depth-of-field refers to the range of heights in simultaneous focus on the sample (i.e., the observed field). In contrast, depth-of-focus refers to the range of positions near the imaging plane of the lens where the image is in focus. This determines, for example, how far away from the ideal imaging plane of the lens you can place a piece of film, or a CCD detector, and still capture an in-focus image. Because SEMs capture images via scanning action, the term depth-of-focus is not relevant.

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Titel: Scanning Electron Microscope (SEM) Instrumentation
verfasst von: Joseph I. Goldstein
Dale E. Newbury
Joseph R. Michael
Nicholas W. M. Ritchie
John Henry J. Scott
David C. Joy
Verlag: Springer New York
Buch: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Print ISBN: 978-1-4939-6674-5

Electronic ISBN: 978-1-4939-6676-9

Copyright-Jahr: 2018
DOI: https://doi.org/10.1007/978-1-4939-6676-9_5

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