Skip to main content
Fachgebiete
Automobil + Motoren Bauwesen + Immobilien Business IT + Informatik Elektrotechnik + Elektronik Energie + Nachhaltigkeit Finance + Banking Management + Führung Marketing + Vertrieb Maschinenbau + Werkstoffe Versicherung + Risiko
DE
EN
Bücher
Zeitschriften
Themenseiten
Organisationspsychologie Projektmanagement Marketing Smart Manufacturing
Weitere Formate
Podcasts Webinare Technik Webinare Wirtschaft Kongresse Veranstaltungskalender Awards
Jetzt Einzelzugang starten
Zugang für Unternehmen
Referenzkunden
SLX-Digitalkonferenz: Zukunftswerkstatt 2024

Mehr Umsatz mit Top-Kontakten

Am 7. Mai erfahren Sie, wie Vertriebsteams Leadgenerierung, Leadnurturing und Leadstrategien effizient steuern können.
Erweiterte Suche
Anmelden
nach oben
Semiconductors
Erschienen in: Semiconductors 7/2015

01.07.2015 | Review

Silicon nanoclusters ncl-Si in a hydrogenated amorphous silicon suboxide matrix a-SiO x :H (0 < x < 2)

verfasst von: Yu. K. Undalov, E. I. Terukov

Erschienen in: Semiconductors | Ausgabe 7/2015

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …
Vorheriger Artikel Theory of the electronic structure of substitutional semiconductor alloys: Analytical approaches
Nächster Artikel Magnetic structure of TlFeS2 and TlFeSe2 chalcogenides

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren
Metadaten
Titel
Silicon nanoclusters ncl-Si in a hydrogenated amorphous silicon suboxide matrix a-SiO x :H (0 < x < 2)
verfasst von
Yu. K. Undalov
E. I. Terukov
Publikationsdatum
01.07.2015
Verlag
Nauka/Interperiodica
Erschienen in
Semiconductors / Ausgabe 7/2015
Print ISSN: 1063-7826
Elektronische ISSN: 1090-6479
DOI
https://doi.org/10.1134/S1063782615070222

Weitere Artikel der Ausgabe 7/2015

Semiconductors 7/2015 Zur Ausgabe

Review

Theory of the electronic structure of substitutional semiconductor alloys: Analytical approaches

Semiconductor Structures, Low-Dimensional Systems, and Quantum Phenomena

DNA detection by THz pumping

Physics of Semiconductor Devices

Light emitting diode–photodiode optoelectronic pairs based on the InAs/InAsSb/InAsSbP heterostructure for the detection of carbon dioxide

Semiconductor Structures, Low-Dimensional Systems, and Quantum Phenomena

Investigation of the optical properties of GaAs with δ-Si doping grown by molecular-beam epitaxy at low temperatures

Physics of Semiconductor Devices

Avalanche mode of high-voltage overloaded p +–i–n + diode switching to the conductive state by pulsed illumination

Electronic Properties of Semiconductors

Magnetic structure of TlFeS2 and TlFeSe2 chalcogenides

Premium Partner

    Bildnachweise