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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 11/2015

01.11.2015

Sintering behavior and microwave dielectric properties of LiMVO4 (M = Mg, Zn)

verfasst von: Chunchun Li, Zhenhai Wei, Hao Luo, Liang Fang

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 11/2015

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Abstract

Two V-containing microwave dielectric ceramics, LiMgVO4 and LiZnVO4, with excellent microwave performance were prepared by a solid-state reaction route at relatively low temperatures. Using NH4VO3 to replace V2O5 could effectively reduce the sintering temperature of LiMgVO4 and LiZnVO4 to 720 °C and enhance their microwave dielectric properties. LiMgVO4 ceramics sintered at 720 °C exhibited a permittivity ~9.89, a Q × f value of 30,800 GHz and a temperature coefficient of resonant frequency ~−171 ppm/°C. LiZnVO4 ceramics had a relatively smaller τ f value of −114 ppm/°C with a ε r ~ 7.48, a Q × f value of 27,600 GHz. Further efforts are in progress to search for effective approaches to compensate their large negative τ f values to be near zero.

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Literatur
1.
Zurück zum Zitat M.T. Sebastian, Dielectric Materials for Wireless Communications (Elsevier, Oxford, 2008) M.T. Sebastian, Dielectric Materials for Wireless Communications (Elsevier, Oxford, 2008)
2.
Zurück zum Zitat I.M. Reaney, D.M. Iddles, J. Am. Ceram. Soc. 89, 2063–2072 (2006) I.M. Reaney, D.M. Iddles, J. Am. Ceram. Soc. 89, 2063–2072 (2006)
3.
Zurück zum Zitat L.X. Li, S. Li, X.S. Lyu, H. Sun, J. Ye, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 26, 5871–5876 (2015)CrossRef L.X. Li, S. Li, X.S. Lyu, H. Sun, J. Ye, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 26, 5871–5876 (2015)CrossRef
5.
Zurück zum Zitat M. Mirsaneh, O.P. Leisten, B. Zalinska, I.M. Reaney, Adv. Funct. Mater. 18, 2293–2300 (2008)CrossRef M. Mirsaneh, O.P. Leisten, B. Zalinska, I.M. Reaney, Adv. Funct. Mater. 18, 2293–2300 (2008)CrossRef
6.
Zurück zum Zitat L. Fang, Z.H. Wei, H.H. Guo, Y.H. Sun, Y. Tang, C.C. Li, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 26, 5892–5895 (2015)CrossRef L. Fang, Z.H. Wei, H.H. Guo, Y.H. Sun, Y. Tang, C.C. Li, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 26, 5892–5895 (2015)CrossRef
7.
Zurück zum Zitat R. Muhammad, Y. Iqbal, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 26, 4870–4874 (2015)CrossRef R. Muhammad, Y. Iqbal, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 26, 4870–4874 (2015)CrossRef
8.
Zurück zum Zitat S. Kawashima, M. Nishida, I. Ueda, H. Ouchi, J. Am. Ceram. Soc. 66, 421–423 (1983)CrossRef S. Kawashima, M. Nishida, I. Ueda, H. Ouchi, J. Am. Ceram. Soc. 66, 421–423 (1983)CrossRef
9.
Zurück zum Zitat Y.W. Kim, J.H. Park, J.G. Park, J. Eur. Ceram. Soc. 24, 1775–1779 (2004)CrossRef Y.W. Kim, J.H. Park, J.G. Park, J. Eur. Ceram. Soc. 24, 1775–1779 (2004)CrossRef
10.
Zurück zum Zitat S.G. Mhaisalkar, D.W. Readey, S.A. Akbar, J. Am. Ceram. Soc. 22, 1693–1698 (1989) S.G. Mhaisalkar, D.W. Readey, S.A. Akbar, J. Am. Ceram. Soc. 22, 1693–1698 (1989)
11.
Zurück zum Zitat H.M. O’bryan Jr., J. Thomson Jr., J.K. Plourde, J. Am. Ceram. Soc. 57, 450–453 (1974)CrossRef H.M. O’bryan Jr., J. Thomson Jr., J.K. Plourde, J. Am. Ceram. Soc. 57, 450–453 (1974)CrossRef
12.
Zurück zum Zitat K. Wakino, K. Minai, H. Tamura, J. Am. Ceram. Soc. 67, 278–281 (1984)CrossRef K. Wakino, K. Minai, H. Tamura, J. Am. Ceram. Soc. 67, 278–281 (1984)CrossRef
14.
16.
Zurück zum Zitat J. Muller, H. Thust, K.H. Drue, Int. J. Microcircuits Electron. Packag. 18, 200–206 (1995) J. Muller, H. Thust, K.H. Drue, Int. J. Microcircuits Electron. Packag. 18, 200–206 (1995)
17.
Zurück zum Zitat A.Y. Borisevich, P.K. Davies, J. Eur. Ceram. Soc. 21, 1719–1722 (2001)CrossRef A.Y. Borisevich, P.K. Davies, J. Eur. Ceram. Soc. 21, 1719–1722 (2001)CrossRef
18.
Zurück zum Zitat D. Zhou, H. Wang, L.X. Pang, X. Yao, X.G. Wu, J. Am. Ceram. Soc. 91, 4115–4117 (2008)CrossRef D. Zhou, H. Wang, L.X. Pang, X. Yao, X.G. Wu, J. Am. Ceram. Soc. 91, 4115–4117 (2008)CrossRef
19.
Zurück zum Zitat D. Zhou, C.A. Randle, H. Wang, L.X. Pang, X. Yao, J. Am. Ceram. Soc. 93, 1096–1100 (2010)CrossRef D. Zhou, C.A. Randle, H. Wang, L.X. Pang, X. Yao, J. Am. Ceram. Soc. 93, 1096–1100 (2010)CrossRef
20.
Zurück zum Zitat C.X. Su, L. Fang, Z.H. Wei, X.J. Kuang, H. Zhang, Ceram. Int. 40, 5015–5018 (2014)CrossRef C.X. Su, L. Fang, Z.H. Wei, X.J. Kuang, H. Zhang, Ceram. Int. 40, 5015–5018 (2014)CrossRef
21.
Zurück zum Zitat L. Fang, C.X. Su, H.F. Zhou, Z.H. Wei, H. Zhang, J. Am. Ceram. Soc. 96, 688–690 (2013)CrossRef L. Fang, C.X. Su, H.F. Zhou, Z.H. Wei, H. Zhang, J. Am. Ceram. Soc. 96, 688–690 (2013)CrossRef
24.
Zurück zum Zitat G. Fu, H. Chen, Z. Chen, J. Zhang, H. Kohler, Sens. Actuators B81, 308–312 (2002)CrossRef G. Fu, H. Chen, Z. Chen, J. Zhang, H. Kohler, Sens. Actuators B81, 308–312 (2002)CrossRef
25.
26.
Zurück zum Zitat D. Capsoni, M. Bini, V. Massarotti, P. Mustarelli, F. Belotti, P. Galinetto, J. Phys. Chem. B 110, 5409–5415 (2006)CrossRef D. Capsoni, M. Bini, V. Massarotti, P. Mustarelli, F. Belotti, P. Galinetto, J. Phys. Chem. B 110, 5409–5415 (2006)CrossRef
27.
Zurück zum Zitat L. Fang, C.C. Li, X.Y. Peng, C.Z. Hu, B.L. Wu, H.F. Zhou, J. Am. Ceram. Soc. 93, 1229–1231 (2010) L. Fang, C.C. Li, X.Y. Peng, C.Z. Hu, B.L. Wu, H.F. Zhou, J. Am. Ceram. Soc. 93, 1229–1231 (2010)
29.
Zurück zum Zitat M.R. Joung, J.S. Kim, M.E. Song, S. Nahm, J. Am. Ceram. Soc. 92, 3092–3094 (2009)CrossRef M.R. Joung, J.S. Kim, M.E. Song, S. Nahm, J. Am. Ceram. Soc. 92, 3092–3094 (2009)CrossRef
30.
Zurück zum Zitat J.J. Bian, D.W. Kim, K.S. Hong, Mater. Res. Bull. 40, 2120–2129 (2005)CrossRef J.J. Bian, D.W. Kim, K.S. Hong, Mater. Res. Bull. 40, 2120–2129 (2005)CrossRef
31.
Zurück zum Zitat E.K. Suresh, A.N. Unnimaya, A. Surjith, R. Ratheesh, Ceram. Int. 39, 3635–3639 (2013)CrossRef E.K. Suresh, A.N. Unnimaya, A. Surjith, R. Ratheesh, Ceram. Int. 39, 3635–3639 (2013)CrossRef
32.
Zurück zum Zitat R. Umemura, H. Ogawa, A. Kan, J. Eur. Ceram. Soc. 26, 2063–2068 (2006)CrossRef R. Umemura, H. Ogawa, A. Kan, J. Eur. Ceram. Soc. 26, 2063–2068 (2006)CrossRef
33.
Zurück zum Zitat X.W. Jiang, C.C. Li, C.X. Su, Z.H. Wei, L. Fang, Ceram. Int. 41, 5172–5176 (2015)CrossRef X.W. Jiang, C.C. Li, C.X. Su, Z.H. Wei, L. Fang, Ceram. Int. 41, 5172–5176 (2015)CrossRef
Metadaten
Titel
Sintering behavior and microwave dielectric properties of LiMVO4 (M = Mg, Zn)
verfasst von
Chunchun Li
Zhenhai Wei
Hao Luo
Liang Fang
Publikationsdatum
01.11.2015
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 11/2015
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-015-3599-6

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