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2023 | OriginalPaper | Buchkapitel

3. Sperrschicht-Feldeffekttransistoren

verfasst von : Peter Baumann

Erschienen in: Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Verlag: Springer Fachmedien Wiesbaden

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Zusammenfassung

Die Parameterextraktion wird am N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor 2N 3919 ausgeführt. Ausgangspunkt der Ermittlungen ist das dynamische Großsignalmodell. Die Extraktion der Modellparameter wie Abschnürspannung, Drain-Source-Sättigungsstrom und Transkonduktanz erfolgt über die Auswertung von Kennlinien. Die Kapazitätsparameter gehen aus der Frequenzabhängigkeit der maximalen stabilen Leistungsverstärkung hervor.

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Literatur
1.
Zurück zum Zitat CADENCE: Or CADPSPICE Demo-Versionen 9.2 bis 16.5 CADENCE: Or CADPSPICE Demo-Versionen 9.2 bis 16.5
2.
Zurück zum Zitat Baumann, P., Möller, W.: Schaltungssimulation mit Design Center, Fachbuchverlag Leipzig, (1994) Baumann, P., Möller, W.: Schaltungssimulation mit Design Center, Fachbuchverlag Leipzig, (1994)
3.
Zurück zum Zitat Ehrhardt, D.: Integrierte analoge Schaltungstechnik, Vieweg (2000) Ehrhardt, D.: Integrierte analoge Schaltungstechnik, Vieweg (2000)
4.
Zurück zum Zitat Baumann, P.: und Mitautoren: Halbleiter-Praxis, Verlag Technik, Berlin (1976) Baumann, P.: und Mitautoren: Halbleiter-Praxis, Verlag Technik, Berlin (1976)
5.
Zurück zum Zitat Hoefer, E.: Nielinger, H.: SPICE. Analyseprogramm. Springer-Verlag, (1985) Hoefer, E.: Nielinger, H.: SPICE. Analyseprogramm. Springer-Verlag, (1985)
Metadaten
Titel
Sperrschicht-Feldeffekttransistoren
verfasst von
Peter Baumann
Copyright-Jahr
2023
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-658-40957-9_3

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