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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 7/2021

05.03.2021

Structural, optical and morphological properties of Ta2O5/SnO2 nanocomposite thin film prepared by spray pyrolysis method

verfasst von: V. Janakiraman, V. Tamilnayagam, R. S. Sundararajan, S. Suresh, C. S. Biju

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 7/2021

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Abstract

The present paper reports the structural, morphological and optical characterizations of Ta2O5/SnO2 thin films prepared on glass substrate by spray pyrolysis technique. The effect of Ta2O5 content on the structural, morphological and optical properties of the prepared thin films was investigated. X-ray diffraction (XRD) result indicated that pure SnO thin film has tetragonal crystal structure. It is observed that the tetragonal structure of SnO transformed to rutile phase of SnO2, when the content of Ta2O5 is increased. The average crystallite size of the thin films calculated using Debye–Scherrer formula is in the range 51–71 nm. Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM) images of both pure SnO and Ta2O5–SnO2 nanocomposite thin films have grain size in the range ~ 6898 nm. Fourier transform infrared Spectrophotometer (FTIR) study reveals that the vibrational modes related to SnO2 and Ta2O5 are available and ascertains the formation of nanocomposite. Energy-dispersive X-ray (EDX) spectra indicate the existence of Tantalum signals along with the signals of tin and oxygen in the nanocomposites. UV–Vis absorbance spectra convey that the absorbance edge red shifts towards longer wavelength region with an increase in Ta2O5 content, which is a signature of band gap narrowing. Further, the optical band gap decreases from 2.25 eV to 1.95 eV, with an increase in Ta2O5 content. This band gap narrowing feature existed in the nanocomposite could be effectively exploited for optoelectronic devices.

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Metadaten
Titel
Structural, optical and morphological properties of Ta2O5/SnO2 nanocomposite thin film prepared by spray pyrolysis method
verfasst von
V. Janakiraman
V. Tamilnayagam
R. S. Sundararajan
S. Suresh
C. S. Biju
Publikationsdatum
05.03.2021
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 7/2021
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-021-05589-z

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