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2019 | OriginalPaper | Buchkapitel

6. Surface Analysis

verfasst von : Daisuke Kawaguchi, Keiji Tanaka

Erschienen in: Molecular Soft-Interface Science

Verlag: Springer Japan

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Abstract

X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), which is one of the most surface-sensitive spectroscopy, provides much information of which kind of atoms is existed at the surface of materials. In addition, chemical states of the atoms can be also analyzed.

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  • Elektrotechnik + Elektronik
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Literatur
5.
Zurück zum Zitat Ashley JC (1980) Inelestic interacitons of low-energy electrons with organic-solids—simple formulas for mean free paths and stopping powers. IEEE Trans Nucl Sci 27(6):1454–1458CrossRef Ashley JC (1980) Inelestic interacitons of low-energy electrons with organic-solids—simple formulas for mean free paths and stopping powers. IEEE Trans Nucl Sci 27(6):1454–1458CrossRef
10.
Zurück zum Zitat Van Vaeck L, Adriaens A, Gijbels R (1999) Static secondary ion mass spectrometry: (S-SIMS) Part 1. Methodology and structural interpretation. Mass Spectrom Rev 18(1):1–47 Van Vaeck L, Adriaens A, Gijbels R (1999) Static secondary ion mass spectrometry: (S-SIMS) Part 1. Methodology and structural interpretation. Mass Spectrom Rev 18(1):1–47
12.
Zurück zum Zitat Eynde XV, Bertrand P, Jerome R (1997) Molecular weight effects on polystyrene fingerprint time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) spectra. Macromolecules 30(21):6407–6416CrossRef Eynde XV, Bertrand P, Jerome R (1997) Molecular weight effects on polystyrene fingerprint time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) spectra. Macromolecules 30(21):6407–6416CrossRef
Metadaten
Titel
Surface Analysis
verfasst von
Daisuke Kawaguchi
Keiji Tanaka
Copyright-Jahr
2019
Verlag
Springer Japan
DOI
https://doi.org/10.1007/978-4-431-56877-3_6

    Marktübersichten

    Die im Laufe eines Jahres in der „adhäsion“ veröffentlichten Marktübersichten helfen Anwendern verschiedenster Branchen, sich einen gezielten Überblick über Lieferantenangebote zu verschaffen.