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10.03.2016 | Ausgabe 7/2016

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 7/2016

Surface morphology and thermal figure of merit of a new compound thin film

Zeitschrift:
Journal of Materials Science: Materials in Electronics > Ausgabe 7/2016
Autoren:
Hussain A. Badran, Hassan A. Sultan, Qusay M. Ali Hassan

Abstract

The third nonlinear optical properties of a new compound 4,4′-bis(3-methoxy benzylidene amino) biphenyl doped poly-methyl methacrylate (PMMA) have been studied using Z-scan technique. Experiments are performed using a continuous waveguide (cw) diode laser at 532 nm wavelength and 0.68 kW/cm2 laser intensity. The optical power limiting behavior of sample doped PMMA was also investigated. It also shows a very good optical limiting behavior with a limiting threshold of 4.7 mW. We attribute the nonlinear absorption and optical limiting property of the sample film to two photon absorption effect at 532 nm. The experimental evidences of observing diffraction pattern in compound 4,4′-bis(3-methoxybenzylideneamino) biphenyl doped PMMA has been present. The refractive index change, Δn, and nonlinear refractive index, n 2 determined from the number of observed ring. We obtained good values of Δn = 105.154 × 10−4and n 2 = 154.154 × 10−7 cm2/W. Variation of refractive index with temperature, dn/dT, and figure of merit, H, are found to be 8.858 × 10−6 1/°C and 5.316 × 10−6, respectively. This large nonlinearity is attributed to a thermal effect resulting from linear absorption. Theoretical diffraction pattern that agree well with experimental one are generated using a wave theory.

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