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Journal of Electroceramics
Erschienen in: Journal of Electroceramics 1/1999

01.12.1999

TEM, XPS and SIMS Analyzes on Grain Boundary of Lanthanum Chromites

verfasst von: Natsuko Sakai, Tatsuo Tsunoda, Natsuo Fukumoto, Isao Kojima, Katsuhiko Yamaji, Teruhisa Horita, Masahiko Ishikawa, Harumi yokokawa, masayuki Dokiya

Erschienen in: Journal of Electroceramics | Sonderheft 1/1999

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Metadaten
Titel
TEM, XPS and SIMS Analyzes on Grain Boundary of Lanthanum Chromites
verfasst von
Natsuko Sakai
Tatsuo Tsunoda
Natsuo Fukumoto
Isao Kojima
Katsuhiko Yamaji
Teruhisa Horita
Masahiko Ishikawa
Harumi yokokawa
masayuki Dokiya
Publikationsdatum
01.12.1999
Verlag
Kluwer Academic Publishers
Erschienen in
Journal of Electroceramics / Ausgabe Sonderheft 1/1999
Print ISSN: 1385-3449
Elektronische ISSN: 1573-8663
DOI
https://doi.org/10.1023/A:1009971028329

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