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Erschienen in: Metallurgical and Materials Transactions A 10/2014

01.09.2014

What is the Effect of Critical Surface Tension of PbSO3 Thin Film?

verfasst von: İ. Afşin Kariper

Erschienen in: Metallurgical and Materials Transactions A | Ausgabe 10/2014

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Abstract

This study focuses on the critical surface tension of lead sulfite (PbSO3) crystalline thin film produced with chemical bath deposition on substrates (commercial glass).The PbSO3 thin films were deposited at room temperature at different deposition times. The structural properties of the films were defined and examined according to X-ray diffraction (XRD) and the XRD results such as dislocation density, average grain size, and no. of crystallites per unit area. Atomic force microscopy was used to measure the film thickness and the surface properties. The critical surface tension of the PbSO3 thin films was measured with an optical tensiometer instrument and calculated using the Zisman method. The results indicated that the critical surface tension of films changed in accordance with the average grain size and film thickness. The film thickness increased with deposition time and was inversely correlated with surface tension. The average grain size increased according to deposition time and was inversely correlated with surface tension.

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Literatur
1.
Zurück zum Zitat A.N. Christensen and A.W.Hewat: Acta Chem. Scand., 1990, vol. 44, pp. 688–91.CrossRef A.N. Christensen and A.W.Hewat: Acta Chem. Scand., 1990, vol. 44, pp. 688–91.CrossRef
2.
Zurück zum Zitat D.S. Zingand D.M. Hercules: J. Phys. Chem., 1978, vol. 82, pp. 1992–95.CrossRef D.S. Zingand D.M. Hercules: J. Phys. Chem., 1978, vol. 82, pp. 1992–95.CrossRef
3.
Zurück zum Zitat J.A. Garcia-Valenzuela, M.R. Baez-Gaxiola, and M. Sotelo-Lerma: Thin Solid Films, 2013, vol. 534, pp. 126–31.CrossRef J.A. Garcia-Valenzuela, M.R. Baez-Gaxiola, and M. Sotelo-Lerma: Thin Solid Films, 2013, vol. 534, pp. 126–31.CrossRef
4.
Zurück zum Zitat P. Gadenne, Y. Yagil, and G.Deutscher: J. Appl. Phys., 1989, vol. 66 pp. 3019–25.CrossRef P. Gadenne, Y. Yagil, and G.Deutscher: J. Appl. Phys., 1989, vol. 66 pp. 3019–25.CrossRef
5.
Zurück zum Zitat P.K. Nair, O.Gomezdaza, and M.T.S.Nair: Adv. Mater. Opt. Electron., 1992, vol. 1, pp. 139–45.CrossRef P.K. Nair, O.Gomezdaza, and M.T.S.Nair: Adv. Mater. Opt. Electron., 1992, vol. 1, pp. 139–45.CrossRef
6.
Zurück zum Zitat H. Hirata and K. Higashiyama: Bull. Chem. Soc. Jpn., 1971, vol. 44, pp. 2420–23.CrossRef H. Hirata and K. Higashiyama: Bull. Chem. Soc. Jpn., 1971, vol. 44, pp. 2420–23.CrossRef
7.
Zurück zum Zitat T.K. Chaudhuri and S. Chatterjee: Proc. Int. Conf. Thermoelectron., 1992, vol.11 p. 40. T.K. Chaudhuri and S. Chatterjee: Proc. Int. Conf. Thermoelectron., 1992, vol.11 p. 40.
8.
Zurück zum Zitat M. Sharon,K.S. Ramaiah, and M. Kumar:J. Electroanal. Chem., 1997, vol. 436, pp.49–52.CrossRef M. Sharon,K.S. Ramaiah, and M. Kumar:J. Electroanal. Chem., 1997, vol. 436, pp.49–52.CrossRef
9.
Zurück zum Zitat B. Thangaraju and P. Kaliannan:Semicond. Sci. Technol., 2000, vol. 15 pp. 849–53.CrossRef B. Thangaraju and P. Kaliannan:Semicond. Sci. Technol., 2000, vol. 15 pp. 849–53.CrossRef
10.
Zurück zum Zitat Y. Ni, F. Wang, H. Liu, G. Yin, J. Hong, X. Ma, and Z. Xu:J. Cryst. Growth, 2004, vol. 262, pp. 399–402.CrossRef Y. Ni, F. Wang, H. Liu, G. Yin, J. Hong, X. Ma, and Z. Xu:J. Cryst. Growth, 2004, vol. 262, pp. 399–402.CrossRef
11.
Zurück zum Zitat Y. Zhao, X.H. Liao, J.M. Hong, J.J. Zhu: Mater. Chem. Phys., 2004, vol. 87, pp.149–53.CrossRef Y. Zhao, X.H. Liao, J.M. Hong, J.J. Zhu: Mater. Chem. Phys., 2004, vol. 87, pp.149–53.CrossRef
12.
Zurück zum Zitat S. Seghaier, N. Kamouna, R. Brinib, and A.B. Amara: Mater. Chem. Phys., 2006, vol. 97, pp. 71–80.CrossRef S. Seghaier, N. Kamouna, R. Brinib, and A.B. Amara: Mater. Chem. Phys., 2006, vol. 97, pp. 71–80.CrossRef
13.
Zurück zum Zitat E.M. Larramendi, O. Calzadilla, A. Gonzalez-Arias, E. Hernandez, and J.Ruiz-Garcia: Thin Solid Films, 2001, vol. 389, pp. 301–06.CrossRef E.M. Larramendi, O. Calzadilla, A. Gonzalez-Arias, E. Hernandez, and J.Ruiz-Garcia: Thin Solid Films, 2001, vol. 389, pp. 301–06.CrossRef
14.
Zurück zum Zitat E. Pentia,L. Pintilie, C. Tivarus, I. Pintilie,and T. Botila:Mater. Sci. Eng. B, 2001, vol. 80, pp. 23–26.CrossRef E. Pentia,L. Pintilie, C. Tivarus, I. Pintilie,and T. Botila:Mater. Sci. Eng. B, 2001, vol. 80, pp. 23–26.CrossRef
15.
Zurück zum Zitat K.R. Joshi, A. Kanjilal, and H.K. Sehgal: Appl. Surf. Sci., 2004, vol. 221, pp.43–47.CrossRef K.R. Joshi, A. Kanjilal, and H.K. Sehgal: Appl. Surf. Sci., 2004, vol. 221, pp.43–47.CrossRef
16.
Zurück zum Zitat J.J. Valenzuela-Jauregui, R. Ramirez-Bon, A. Mendoza-Galvan, M. Sotelo-Lerma: Thin Solid Films, 2003, vol. 441, pp. 104–10.CrossRef J.J. Valenzuela-Jauregui, R. Ramirez-Bon, A. Mendoza-Galvan, M. Sotelo-Lerma: Thin Solid Films, 2003, vol. 441, pp. 104–10.CrossRef
17.
Zurück zum Zitat W.H. Paar, R.S.W. Braithwaite, T.T. Chen, and P. Keller:Mineral. Mag., 1984, vol.48, pp. 283–88.CrossRef W.H. Paar, R.S.W. Braithwaite, T.T. Chen, and P. Keller:Mineral. Mag., 1984, vol.48, pp. 283–88.CrossRef
18.
Zurück zum Zitat J.A. Mandarino: Ont. Can. Miner., 1965, vol.8, pp. 149–58. J.A. Mandarino: Ont. Can. Miner., 1965, vol.8, pp. 149–58.
19.
Zurück zum Zitat H.E. Esparza-Ponce, J.Hernández-Borja, A. Reyes-Rojas, M. Cervantes-Sáncheza, Y.V. Vorobiev, R. Ramírez-Bona, J.F. Pérez-Robles, and J. González-Hernández: Mater. Chem. Phys., 2009, vol. 113, pp. 824–28.CrossRef H.E. Esparza-Ponce, J.Hernández-Borja, A. Reyes-Rojas, M. Cervantes-Sáncheza, Y.V. Vorobiev, R. Ramírez-Bona, J.F. Pérez-Robles, and J. González-Hernández: Mater. Chem. Phys., 2009, vol. 113, pp. 824–28.CrossRef
20.
Zurück zum Zitat Y. Akaltun, M.A. Yildirım, A. Ates, and M. Yildirim: Opt. Commun., 2011, vol. 284,pp. 2307–11.CrossRef Y. Akaltun, M.A. Yildirım, A. Ates, and M. Yildirim: Opt. Commun., 2011, vol. 284,pp. 2307–11.CrossRef
21.
Zurück zum Zitat H.M. Pathan, B.R. Sankapal, J.D. Desai, and C.D. Lokhande: Mater. Chem. Phys., 2002, vol. 78, pp. 11–14.CrossRef H.M. Pathan, B.R. Sankapal, J.D. Desai, and C.D. Lokhande: Mater. Chem. Phys., 2002, vol. 78, pp. 11–14.CrossRef
22.
Zurück zum Zitat H.W. Foxand W.A. Zisman: J. Colloid. Sci., 1952, vol. 7, pp. 109–21.CrossRef H.W. Foxand W.A. Zisman: J. Colloid. Sci., 1952, vol. 7, pp. 109–21.CrossRef
23.
Zurück zum Zitat S.K. Wang, Y.T. Chen, and S.R. Jian: J. Nanomater., 2011, vol. 2011, pp. 1–4. S.K. Wang, Y.T. Chen, and S.R. Jian: J. Nanomater., 2011, vol. 2011, pp. 1–4.
24.
Zurück zum Zitat G. Guisbiers, S. Arscott, R. Snyders: Appl. Phys. Lett., 2012, vol.101, 231606.CrossRef G. Guisbiers, S. Arscott, R. Snyders: Appl. Phys. Lett., 2012, vol.101, 231606.CrossRef
25.
Zurück zum Zitat A. Mathur, P. Sharma, and R.C. Cammarata: Nat. Mater., 2005, vol. 4, p.186.CrossRef A. Mathur, P. Sharma, and R.C. Cammarata: Nat. Mater., 2005, vol. 4, p.186.CrossRef
Metadaten
Titel
What is the Effect of Critical Surface Tension of PbSO3 Thin Film?
verfasst von
İ. Afşin Kariper
Publikationsdatum
01.09.2014
Verlag
Springer US
Erschienen in
Metallurgical and Materials Transactions A / Ausgabe 10/2014
Print ISSN: 1073-5623
Elektronische ISSN: 1543-1940
DOI
https://doi.org/10.1007/s11661-014-2387-x

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