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Journal of Electronic Materials

Erschienen in:

01.10.2007

Yield Strengths of Biaxially Textured Metallic Substrates (Ni and its Alloys) Determined Using a Simplified Test Method

verfasst von: Chakrapani V. Varanasi, Leon Chuck, Lyle Brunke, Jack Burke, Andrew D. Chaney, Paul N. Barnes

Erschienen in: Journal of Electronic Materials | Ausgabe 10/2007

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Titel: Yield Strengths of Biaxially Textured Metallic Substrates (Ni and its Alloys) Determined Using a Simplified Test Method
verfasst von: Chakrapani V. Varanasi
Leon Chuck
Lyle Brunke
Jack Burke
Andrew D. Chaney
Paul N. Barnes
Publikationsdatum: 01.10.2007
Verlag: Springer US
Erschienen in: Journal of Electronic Materials / Ausgabe 10/2007
Print ISSN: 0361-5235
Elektronische ISSN: 1543-186X
DOI: https://doi.org/10.1007/s11664-007-0215-4