nach oben

Journal of Electronic Testing

Erschienen in:

01.12.2007 | Letter

A Case Study on Phase-Locked Loop Automatic Layout Generation and Transient Fault Injection Analysis

verfasst von: Cristiano Lazzari, Ricardo A. L. Reis, Lorena Anghel

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 6/2007

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config

KI-gestützte Suche

Aus

Abstract

This paper reports a case study on the automatic layout generation and transient fault injection analysis of a Phase-Locked Loop (PLL). A script methodology was used to generate the layout based on transistor level specifications. Experiences were performed in the PLL in order to evaluate the sensibility against transient faults. The circuit was generated using the STMicroelectronics HCMOS8D process (0.18 μm). Results reveal the PLL sensitive points allowing the study and development of techniques to protect this circuit against transient faults.

Vorheriger Artikel Reducing Test Time Using an Enhanced RF Loopback

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

über 102.000 Bücher
über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

Automobil + Motoren
Bauwesen + Immobilien
Business IT + Informatik
Elektrotechnik + Elektronik
Energie + Nachhaltigkeit
Finance + Banking
Management + Führung
Marketing + Vertrieb
Maschinenbau + Werkstoffe
Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

über 67.000 Bücher
über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

Automobil + Motoren
Bauwesen + Immobilien
Business IT + Informatik
Elektrotechnik + Elektronik
Energie + Nachhaltigkeit
Maschinenbau + Werkstoffe

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

über 67.000 Bücher
über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

Bauwesen + Immobilien
Business IT + Informatik
Finance + Banking
Management + Führung
Marketing + Vertrieb
Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Jetzt informieren

ATZelectronics worldwide

ATZlectronics worldwide is up-to-speed on new trends and developments in automotive electronics on a scientific level with a high depth of information.

Order your 30-days-trial for free and without any commitment.

Jetzt informieren

ATZelektronik

Die Fachzeitschrift ATZelektronik bietet für Entwickler und Entscheider in der Automobil- und Zulieferindustrie qualitativ hochwertige und fundierte Informationen aus dem gesamten Spektrum der Pkw- und Nutzfahrzeug-Elektronik.

Lassen Sie sich jetzt unverbindlich 2 kostenlose Ausgabe zusenden.

Jetzt informieren

Ammari A (2006) Durcissement et analyse de sûreté de citcuits integrés décrits en langage de haut niveau. Thesis proposition, Institut National Polytechnique de Grenoble, France

Cadence Design Systems (2006) Cadence Design Systems homepage. http://www.cadence.com

Lazzari C, Domingues C, Güntzel J, Reis R (2003) A new macro-cell generation strategy for three metal layer CMOS technologies. VLSI-Soc, Nice, pp 193–197

Lyons G, Wu G, Mellissinos T, Cable J (1999) A high performance rad hard 2–3 GHz integer N CMOS phase lock loop. Radiation effects data workshop 1999. IEEE, Piscataway, pp 41–45

Martínez I, Delatte P, Flandre D (2000) Characterization, simulation and modeling of PLL under irradiation using HDL-A. BMAS 2000. 2000 IEEE International Behavioral Modeling and Simulation Conference. IEEE, Piscataway, pp 57–61

Messenger G (1982) Collection of charge on junction nodes from ion tracks. IEEE Trans Nucl Sci 29:2024–2031CrossRef

Pan D, Li HW, Wilamowski BM (2003) A radiation-hard phase-locked loop. ISIE’03. 2003 IEEE international symposium on industrial electronics, vol 2. IEEE, Piscataway, pp 901–906

Saleh S (2005) Méthodes de simulation des erreurs transitoires à plusiers niveaux d’abstraction. Thesis Dissertation, Institut National Polytechnique de Grenoble, France

Toifl T, Moreira P (1999) A radiation-hard 80 MHz phase locked loop for clock and data recovery. In: Proceedings of the 1999 IEEE international symposium on circuits and systems, ISCAS ’99, vol. 2. IEEE, Piscataway, pp 524–527CrossRef

Titel: A Case Study on Phase-Locked Loop Automatic Layout Generation and Transient Fault Injection Analysis
verfasst von: Cristiano Lazzari
Ricardo A. L. Reis
Lorena Anghel
Publikationsdatum: 01.12.2007
Verlag: Springer US
Erschienen in: Journal of Electronic Testing / Ausgabe 6/2007
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI: https://doi.org/10.1007/s10836-007-5055-x

Springer Professional

Abstract

Bitte loggen Sie sich ein, um Zugang zu Ihrer Lizenz zu erhalten.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Springer Professional "Technik"

Springer Professional "Wirtschaft"

ATZelectronics worldwide

ATZelektronik

Weitere Artikel der Ausgabe 6/2007

A Fully-Settled Linear Behavior Plus Noise Model for Evaluating the Digital Stimuli of the Design-for-Digital-Testability Σ-Δ Modulators

Hard-Fault Detection and Diagnosis During the Application of Model-Based Data Converter Testing

Test Technology Newsletter - December 2007

Oscillation Test Scheme of SC Biquad Filters Based on Internal Reconfiguration

Fast PWM-Based Test for High Resolution ΣΔ ADCs

Oscillator-Based Reconfigurable Sinusoidal Signal Generator for ADC BIST