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2020 | OriginalPaper | Buchkapitel

A New Ageing-Aware Approach via Path Isolation

verfasst von : Yue Lu, Shengyu Duan, Tom J. Kazmierski

Erschienen in: Languages, Design Methods, and Tools for Electronic System Design

Verlag: Springer International Publishing

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Abstract

NBTI is becoming one of the major circuit reliability issues in nano-scale technologies. BTI can cause a threshold voltage shift in CMOS devices and consequently increase circuit delay. This paper proposed a novel ageing aware approach to improve circuit’s lifetime. The vulnerable circuit paths against ageing effects are isolated. In addition, minimum area overhead is consumed by adopting proposed synthesis algorithm. The simulation results show that the proposed approach can save up to 67.7% area compared with the conventional over-design technique.

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Metadaten
Titel
A New Ageing-Aware Approach via Path Isolation
verfasst von
Yue Lu
Shengyu Duan
Tom J. Kazmierski
Copyright-Jahr
2020
Buch
Languages, Design Methods, and Tools for Electronic System Design

Print ISBN: 978-3-030-31584-9

Electronic ISBN: 978-3-030-31585-6

Copyright-Jahr: 2020

DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-030-31585-6_5

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    Bildnachweise