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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 3/2018

19.02.2018

A Time-Domain Digital-Intensive Built-In Tester for Analog Circuits

verfasst von: Congyin Shi, Sanghoon Lee, Sergio Soto Aguilar, Edgar Sánchez-Sinencio

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 3/2018

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Abstract

To solve test challenges in nanometer CMOS technologies, a time-domain digital-intensive built-in tester for analog circuits is proposed. The compact tester allows characterizations of AC response and DC gain for various analog circuits which have a low-pass frequency characteristic. By applying ramp signals to stimulate the circuit under test and measuring slopes and time delays of its responses, the testing can be simple and robust over process-voltage-temperature variations. Also, it is well suited for nanometer technologies because of its digital-intensive implementation. The tester was fabricated in 65 nm standard CMOS process and occupies 0.026 mm2.
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Wambacq P, Sansen WM (1998) Distortion analysis of analog integrated circuits. Springer, New YorkCrossRef
Metadaten
Titel
A Time-Domain Digital-Intensive Built-In Tester for Analog Circuits
verfasst von
Congyin Shi
Sanghoon Lee
Sergio Soto Aguilar
Edgar Sánchez-Sinencio
Publikationsdatum
19.02.2018
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 3/2018
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-018-5713-1

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