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Erschienen in: Journal of Materials Science 11/2011

01.06.2011

Detector-grade CdZnTe:In crystals obtained by annealing

verfasst von: Pengfei Yu, Wanqi Jie, Tao Wang

Erschienen in: Journal of Materials Science | Ausgabe 11/2011

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Abstract

A method for successfully obtaining detector-grade CdZnTe:In (CZT:In) crystals by annealing is described in this article. Pure Te is used as annealing source, which can provide sufficient deep-level Te antisites. Characterizations reveal that the resistivity is greatly enhanced by more than five orders after this annealing, thus the crystals can be use for radiation detectors. This is due to introduce efficient Te antisites to pin the Fermi level to the middle of the band gap. The EPD of dislocation reduces because the star-like Cd inclusions are eliminated by annealing. Investigation of annealing time shows that 240 h annealed CZT:In crystal with 7.8% energy resolution and 2.01×10−3 cm2/V μτ value has the best detector performance.

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Metadaten
Titel
Detector-grade CdZnTe:In crystals obtained by annealing
verfasst von
Pengfei Yu
Wanqi Jie
Tao Wang
Publikationsdatum
01.06.2011
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science / Ausgabe 11/2011
Print ISSN: 0022-2461
Elektronische ISSN: 1573-4803
DOI
https://doi.org/10.1007/s10853-011-5288-z

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