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Journal of Materials Science: Materials in Electronics

Erschienen in:

14.08.2021

Electrical properties of La_0.72Ca_0.28MnO₃: Ag_0.2 thin films of different deposition time prepared by deposited pulsed laser method

verfasst von: Longfei Qi, Yule Li, Zhiyu Li, Ping Yu, Yingjuan Li, Qingming Chen, Xiang Liu, Hui Zhang

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 18/2021

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Abstract

The LCMO: Ag_0.2 thin film was grown on the tilted LAO substrate by pulsed laser technology. The structural and electrical properties of the thin film were studied with different deposition times. The X-Ray diffraction analysis demonstrated that all film samples showed exhibit mixed growth and have high crystalline quality. The surface morphology of the films was characterized by atomic force microscopy, and the surface roughness of the films decreased as the deposition time increased. Electrical properties tests show that the peak voltages U_p of LIV signals of the films reach their maximum at a deposition time of 10 min, while it also having the TCR_max = 18.43%·K⁻¹. The testing results show that the presence of optimal film thickness can enhance the anisotropic Seebeck coefficient of the film, which in turn improves the film properties.

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Titel: Electrical properties of La0.72Ca0.28MnO3: Ag0.2 thin films of different deposition time prepared by deposited pulsed laser method
verfasst von: Longfei Qi
Yule Li
Zhiyu Li
Ping Yu
Yingjuan Li
Qingming Chen
Xiang Liu
Hui Zhang
Publikationsdatum: 14.08.2021
Verlag: Springer US
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 18/2021
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI: https://doi.org/10.1007/s10854-021-06784-8

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