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2015 | OriginalPaper | Buchkapitel

7. Failure Data Management

verfasst von : Dhanasekharan Natarajan

Erschienen in: Reliable Design of Electronic Equipment

Verlag: Springer International Publishing

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Abstract

In spite of applying reliability techniques during the design and development of equipment, failure data could still arise in the life cycle of electronic equipment. The failures are categorized as electrical performance, component and mechanical failures. Organizing a failure data management system (FDMS) to handle the failure data is presented. Practical considerations for the root cause analysis of component failures and classifying the origin of the causes as design error, manufacturing process induced failure and defective component are explained.

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Literatur
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Zurück zum Zitat Natarajan, D.: A Practical Design of Lumped, Semi-lumped & Microwave Cavity Filters. Springer, Berlin (2013) Natarajan, D.: A Practical Design of Lumped, Semi-lumped & Microwave Cavity Filters. Springer, Berlin (2013)
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Zurück zum Zitat Quality and Reliability Handbook , HBD851/D, on Semiconductor, USA, Rev. 7 (2013) Quality and Reliability Handbook , HBD851/D, on Semiconductor, USA, Rev. 7 (2013)
Metadaten
Titel
Failure Data Management
verfasst von
Dhanasekharan Natarajan
Copyright-Jahr
2015
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-319-09111-2_7

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