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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 9/2013

01.09.2013

Structural and electronic properties of polyaniline/yittrium oxide composites

verfasst von: M. Saeed, Abdul Shakoor, Ejaz Ahmad

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 9/2013

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Abstract

Composites of polyaniline with yttrium oxide (Y2O3) have been synthesized by chemical polymerization method. The structural properties of synthesized Polyaniline (PANI) and PANI/Y2O3 were studied by X-ray diffraction (XRD) analysis. XRD pattern indicate that PANI is intercalated into the layers of Y2O3 successfully and therefore the degree of crystallinity increases due to crystalline of Y2O3. Fourier transform infrared (FT-IR) indicated that there is a strong interaction between PANI and Y2O3. Electronic properties (Dielectric and Conductivity) of PANI and PANI/Y2O3 composite have been investigated between frequency ranges of 1 MHz and 3.0 GHz. Higher dielectric constants and dielectric losses of PANI/Y2O3 composites than those of Synthesis PANI were found. As the content of Y2O3 increased, the dielectric constant and loss also increased. The value of dielectric constant (ε/) for all PANI/Y2O3 composite is very high at low frequency but decreases with the increases of frequency. PANI/Y2O3 composite materials with high dielectric constants are highly desirable for use in charge-storage devices.

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Metadaten
Titel
Structural and electronic properties of polyaniline/yittrium oxide composites
verfasst von
M. Saeed
Abdul Shakoor
Ejaz Ahmad
Publikationsdatum
01.09.2013
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 9/2013
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-013-1281-4

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