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Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 6/2014

01.06.2014

Microwave dielectric properties and microstructures of Ca(Nb1−xTax)2O6 ceramics

verfasst von: Yih-Chien Chen, Min-Zhe Weng, Kuang-Chiung Chang

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 6/2014

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Abstract

This study elucidates the microwave dielectric properties and microstructures of Ca(Nb1−xTax)2O6 ceramics with a view to their potential for microwave devices. The Ca(Nb1−xTax)2O6 ceramics were prepared by the conventional solid-state method with various sintering temperatures. The X-ray diffraction patterns of the Ca(Nb0.93Ta0.07)2O6 ceramics revealed no significant variation of phase with sintering temperatures. A dielectric constant (ɛ r ) of 17.7, a quality factor (Q × f) of 117,000 GHz, and a temperature coefficient of resonant frequency (τ f ) of −51 ppm/°C were obtained for Ca(Nb0.93Ta0.07)2O6 ceramics that were sintered at 1,400 °C for 4 h.
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Metadaten
Titel
Microwave dielectric properties and microstructures of Ca(Nb1−xTax)2O6 ceramics
verfasst von
Yih-Chien Chen
Min-Zhe Weng
Kuang-Chiung Chang
Publikationsdatum
01.06.2014
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 6/2014
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-014-1898-y

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