Skip to main content
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 10/2016

03.06.2016

Dielectric and impedance spectroscopy of Ni doped BiFeO3-BaTiO3 electronic system

verfasst von: S. N. Das, A. Pattanaik, S. Kadambini, S. Pradhan, S. Bhuyan, R. N. P. Choudhary

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 10/2016

Einloggen

Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.

search-config
loading …

Abstract

A nickel modified BiFeO3–BaTiO3 electronic system has been fabricated by using a high-temperature solid-state reaction process. Preliminary X-ray structural analysis has confirmed the formation of a single-phase material in the orthorhombic crystal system. The dielectric and impedance characteristics of the prepared material have been studied in a wide range of frequency (1 kHz-1 MHz) at different temperatures (25–500 °C) for the better understanding of the frequency-temperature dependence of its capacitive and resistive behavior respectively. A significant effect of grains and grain boundaries of the resistive characteristics of the material is observed at high temperatures. The electrical conductivity of the material increases with increase in frequency in the low-temperature region. Preliminary study of a small amount of Ni doping in the above binary system (i.e., BiFeO3–BaTiO3) has provided many interesting results which may be useful for the fabrication of an electronic device.

Sie haben noch keine Lizenz? Dann Informieren Sie sich jetzt über unsere Produkte:

Springer Professional "Wirtschaft+Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft+Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 102.000 Bücher
  • über 537 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Maschinenbau + Werkstoffe
  • Versicherung + Risiko

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Technik"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Technik" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 390 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Automobil + Motoren
  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Elektrotechnik + Elektronik
  • Energie + Nachhaltigkeit
  • Maschinenbau + Werkstoffe




 

Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Springer Professional "Wirtschaft"

Online-Abonnement

Mit Springer Professional "Wirtschaft" erhalten Sie Zugriff auf:

  • über 67.000 Bücher
  • über 340 Zeitschriften

aus folgenden Fachgebieten:

  • Bauwesen + Immobilien
  • Business IT + Informatik
  • Finance + Banking
  • Management + Führung
  • Marketing + Vertrieb
  • Versicherung + Risiko




Jetzt Wissensvorsprung sichern!

Literatur
2.
Zurück zum Zitat W. Eerenstein, N.D. Mathur, J.F. Scott, Nature London 442, 759 (2006)CrossRef W. Eerenstein, N.D. Mathur, J.F. Scott, Nature London 442, 759 (2006)CrossRef
3.
Zurück zum Zitat M.M. Kumar, V.R. Palkar, K. Srinivas, S.V. Suryanarayana, Appl. Phys. Lett. 76, 2764 (2000)CrossRef M.M. Kumar, V.R. Palkar, K. Srinivas, S.V. Suryanarayana, Appl. Phys. Lett. 76, 2764 (2000)CrossRef
4.
Zurück zum Zitat Y.P. Wang, L. Zhou, M.F. Zhang, X.Y. Chen, J.M. Liu, Z.G. Liu, Appl. Phys. Lett. 84, 1731 (2004)CrossRef Y.P. Wang, L. Zhou, M.F. Zhang, X.Y. Chen, J.M. Liu, Z.G. Liu, Appl. Phys. Lett. 84, 1731 (2004)CrossRef
5.
6.
Zurück zum Zitat S. Pattanayak, R.N.P. Choudhary, P.R. Das, J. Electronic. Mater. 43, 470 (2014)CrossRef S. Pattanayak, R.N.P. Choudhary, P.R. Das, J. Electronic. Mater. 43, 470 (2014)CrossRef
7.
Zurück zum Zitat S. Shankar, M. Kumar, A.K. Ghosh, O.P. Thakur, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 25, 4896 (2014)CrossRef S. Shankar, M. Kumar, A.K. Ghosh, O.P. Thakur, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 25, 4896 (2014)CrossRef
8.
Zurück zum Zitat L.Y. Wang, D.H. Wang, H.B. Huang, Z.D. Han, Q.Q. Coa, Bx Gu, Y. W. du. J. Alloys Compd. 469, 1 (2009)CrossRef L.Y. Wang, D.H. Wang, H.B. Huang, Z.D. Han, Q.Q. Coa, Bx Gu, Y. W. du. J. Alloys Compd. 469, 1 (2009)CrossRef
9.
10.
Zurück zum Zitat Y.H. Gu, Y. Wang, F. Chen, H. Lai, W. Chan, W.P. Chen, J. Appl. Phys. 108, 094112 (2010)CrossRef Y.H. Gu, Y. Wang, F. Chen, H. Lai, W. Chan, W.P. Chen, J. Appl. Phys. 108, 094112 (2010)CrossRef
11.
Zurück zum Zitat Y. Ma, X.M. Chen, Appl. Phys. Lett. 105, 054107 (2009) Y. Ma, X.M. Chen, Appl. Phys. Lett. 105, 054107 (2009)
12.
Zurück zum Zitat R.N.P. Choudhary, D.K. Pradhan, C.M. Tirado, G.E. Bonilla, R.S. Katiyar, J. Appl. Phys. 100, 084105 (2006)CrossRef R.N.P. Choudhary, D.K. Pradhan, C.M. Tirado, G.E. Bonilla, R.S. Katiyar, J. Appl. Phys. 100, 084105 (2006)CrossRef
13.
Zurück zum Zitat L. Luo, L. Zhou, X. Zou, Q. Zheng, D. Lin, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 25, 4896–4901 (2014)CrossRef L. Luo, L. Zhou, X. Zou, Q. Zheng, D. Lin, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 25, 4896–4901 (2014)CrossRef
14.
15.
Zurück zum Zitat T.J. Park, G.C. Papaefthymiou, A.J. Viescas, Y. Lee, H. Zhou, S.S. Wong, Phys. Rev. B 82, 024431 (2010)CrossRef T.J. Park, G.C. Papaefthymiou, A.J. Viescas, Y. Lee, H. Zhou, S.S. Wong, Phys. Rev. B 82, 024431 (2010)CrossRef
16.
Zurück zum Zitat Y.J. Wu, X.K. Chen, J. Zhang, X.J. Chen, J. Appl. Phys. 111, 053927 (2012)CrossRef Y.J. Wu, X.K. Chen, J. Zhang, X.J. Chen, J. Appl. Phys. 111, 053927 (2012)CrossRef
17.
Zurück zum Zitat T. Kawae, Y. Terauchi, H. Tsuda, M. Kumeda, Appl. Phys. Lett. 94, 112904 (2009)CrossRef T. Kawae, Y. Terauchi, H. Tsuda, M. Kumeda, Appl. Phys. Lett. 94, 112904 (2009)CrossRef
18.
Zurück zum Zitat M.S. Wu, Z.B. Huang, C.X. Han, S.L. Yuan, C.L. Lu, S.C. Xia, Solid State Commun. 152, 2142 (2012)CrossRef M.S. Wu, Z.B. Huang, C.X. Han, S.L. Yuan, C.L. Lu, S.C. Xia, Solid State Commun. 152, 2142 (2012)CrossRef
19.
20.
Zurück zum Zitat R. Castaneda, G.R. George, J. Silva, M.E.F. Montero, J.A.M. Aquino, A.R. Rojas, L. Fuentes, Ceram. Int. 39(7), 8527 (2013)CrossRef R. Castaneda, G.R. George, J. Silva, M.E.F. Montero, J.A.M. Aquino, A.R. Rojas, L. Fuentes, Ceram. Int. 39(7), 8527 (2013)CrossRef
22.
Zurück zum Zitat A. Kumar, K.L. Yadav, J. Phys. Chem. 72(11), 1189 (2011) A. Kumar, K.L. Yadav, J. Phys. Chem. 72(11), 1189 (2011)
23.
Zurück zum Zitat Wu E, POWD, An interactive powder diffraction data interpretation and indexing program, ver. 2.1, School of Physical Sciences, Flinders University South Bedford Park, SA 5042 Australia Wu E, POWD, An interactive powder diffraction data interpretation and indexing program, ver. 2.1, School of Physical Sciences, Flinders University South Bedford Park, SA 5042 Australia
24.
Zurück zum Zitat J. Cheng, S.W. Yu, J. Chen, Z. Meng, L.E. Cross, Appl. Phys. Lett. 89, 122911 (2006)CrossRef J. Cheng, S.W. Yu, J. Chen, Z. Meng, L.E. Cross, Appl. Phys. Lett. 89, 122911 (2006)CrossRef
25.
Zurück zum Zitat K.S. Kumar, C. Venkateswar, D. Kannan, B. Tiwari, M.S.R. Rao, J. Phys. D Appl. Phys. 45, 415302 (2012)CrossRef K.S. Kumar, C. Venkateswar, D. Kannan, B. Tiwari, M.S.R. Rao, J. Phys. D Appl. Phys. 45, 415302 (2012)CrossRef
26.
Zurück zum Zitat R.N.P. Choudhary, D.K. Pradhan, C.M. Tirado, G.E. Bonilla, R.S. Katiyar, J. Mater. Sci. 42, 7423 (2007)CrossRef R.N.P. Choudhary, D.K. Pradhan, C.M. Tirado, G.E. Bonilla, R.S. Katiyar, J. Mater. Sci. 42, 7423 (2007)CrossRef
28.
Zurück zum Zitat S. Sharma, V. Singh, O. Parkash, R. K. Dwivedi. Appl. Phys. A 112, 975 (2013)CrossRef S. Sharma, V. Singh, O. Parkash, R. K. Dwivedi. Appl. Phys. A 112, 975 (2013)CrossRef
29.
Zurück zum Zitat K.K. Mishra, V. Sivasubramanian, R.M. Sarguna, T.R. Ravindran, A.K. Arora, J. Solid State Chem. 184, 2381 (2011)CrossRef K.K. Mishra, V. Sivasubramanian, R.M. Sarguna, T.R. Ravindran, A.K. Arora, J. Solid State Chem. 184, 2381 (2011)CrossRef
30.
Zurück zum Zitat S. Gupta, S. Bhattacharjee, D. Pandey, V. Bansal, S.K. Bhargava, J.L. Peng, A. Garg, Appl. Phys. A 104, 395 (2011)CrossRef S. Gupta, S. Bhattacharjee, D. Pandey, V. Bansal, S.K. Bhargava, J.L. Peng, A. Garg, Appl. Phys. A 104, 395 (2011)CrossRef
31.
Zurück zum Zitat D.K. Pradhan, B. Behera, P.R. Das, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 23, 779 (2012)CrossRef D.K. Pradhan, B. Behera, P.R. Das, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 23, 779 (2012)CrossRef
32.
Zurück zum Zitat S. Chatterjee, P.K. Mahapatra, R.N.P. Choudhary, A.K. Thakur, Phys. Status Solidi (a) 201, 588 (2004)CrossRef S. Chatterjee, P.K. Mahapatra, R.N.P. Choudhary, A.K. Thakur, Phys. Status Solidi (a) 201, 588 (2004)CrossRef
33.
Zurück zum Zitat C.K. Suman, K. Prasad, R.N.P. Choudhary, J. Mater. Sci. 41, 369 (2006)CrossRef C.K. Suman, K. Prasad, R.N.P. Choudhary, J. Mater. Sci. 41, 369 (2006)CrossRef
34.
Zurück zum Zitat V. Provenzano, L.P. Boesch, V. Volterra, C.T. Moynihan, P.B. Macedo, J. Am. Ceram. Soc. 55, 492 (1972)CrossRef V. Provenzano, L.P. Boesch, V. Volterra, C.T. Moynihan, P.B. Macedo, J. Am. Ceram. Soc. 55, 492 (1972)CrossRef
36.
37.
Zurück zum Zitat C. Behera, R.N.P. Choudhary, P.R. Das, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 25, 2086 (2014)CrossRef C. Behera, R.N.P. Choudhary, P.R. Das, J. Mater. Sci. Mater. Electron. 25, 2086 (2014)CrossRef
Metadaten
Titel
Dielectric and impedance spectroscopy of Ni doped BiFeO3-BaTiO3 electronic system
verfasst von
S. N. Das
A. Pattanaik
S. Kadambini
S. Pradhan
S. Bhuyan
R. N. P. Choudhary
Publikationsdatum
03.06.2016
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 10/2016
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-016-5084-2

Weitere Artikel der Ausgabe 10/2016

Journal of Materials Science: Materials in Electronics 10/2016 Zur Ausgabe

Neuer Inhalt