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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 2/2001

01.04.2001

Detectability Conditions of Full Opens in the Interconnections

verfasst von: Antonio Zenteno, Victor H. Champac, Joan Figueras

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 2/2001

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Metadaten
Titel
Detectability Conditions of Full Opens in the Interconnections
verfasst von
Antonio Zenteno
Victor H. Champac
Joan Figueras
Publikationsdatum
01.04.2001
Verlag
Kluwer Academic Publishers
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 2/2001
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1023/A:1011179007753

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