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Erschienen in: Metallurgical and Materials Transactions A 6/2021

22.03.2021 | Topical Collection: Innovations in High Entropy Alloys and Bulk Metallic Glasses

Measurement of Lattice Distortion in NbTaTiV and NbTaTiVZr Using Electron Microscopy

verfasst von: Yi Chou, Chanho Lee, Peter K. Liaw, Yi-Chia Chou

Erschienen in: Metallurgical and Materials Transactions A | Ausgabe 6/2021

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Abstract

High annular angle dark field-scanning transmission electron microscopy (HAADF-STEM) was used to directly measure the lattice distortion of NbTaTiV and NbTaTiVZr by fitting the images with a two-dimensional (2-D) Gauss function. The effect of the scanning direction and the accuracy of the HAADF-STEM method were discussed, and the lattice distortion factors in NbTaTiV and NbTaTiVZr were 0.113 and 0.155 Å, respectively.

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Fußnoten
1
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Metadaten
Titel
Measurement of Lattice Distortion in NbTaTiV and NbTaTiVZr Using Electron Microscopy
verfasst von
Yi Chou
Chanho Lee
Peter K. Liaw
Yi-Chia Chou
Publikationsdatum
22.03.2021
Verlag
Springer US
Erschienen in
Metallurgical and Materials Transactions A / Ausgabe 6/2021
Print ISSN: 1073-5623
Elektronische ISSN: 1543-1940
DOI
https://doi.org/10.1007/s11661-021-06215-7

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