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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 5/2008

01.05.2008

Microwave dielectric ceramics in the BaO–TiO2–ZnO system doped with Nb2O5

verfasst von: Liying Chen, Shunhua Wu, Shuang Wang, Guoqing Wang

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 5/2008

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Abstract

The microwave dielectric properties of BaO–TiO2–ZnO (BTZ) system ceramics were studied as a function of the amount of Nb2O5 dopant. With the addition of 0–0.025 mol% Nb2O5, the substitution of Ti4+ ions with Nb5+ ions decreased the sintering temperature and increased the dielectric constant εr and quality factor Q of the system due to the similar atomic radius of Nb5+ and Ti4+ ions. When the amount of Nb5+ increased further (>0.025 mol%), Q was decreased by increasing the titanium vacancies. When the system doped with 0.025 mol% Nb2O5 was sintered at 1160 °C for 6 h, the εr, Qf0, and the temperature coefficient of resonant frequency (τf) were 36.7, 41,000 GHz, and −5.0 ppm/°C, respectively, at 5 GHz.

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Metadaten
Titel
Microwave dielectric ceramics in the BaO–TiO2–ZnO system doped with Nb2O5
verfasst von
Liying Chen
Shunhua Wu
Shuang Wang
Guoqing Wang
Publikationsdatum
01.05.2008
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 5/2008
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-007-9363-9

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