2020 | OriginalPaper | Buchkapitel
Model-Based Sensitivity Analysis of Nondestructive Testing Systems Using Machine Learning Algorithms
verfasst von : Jethro Nagawkar, Leifur Leifsson, Roberto Miorelli, Pierre Calmon
Erschienen in: Computational Science – ICCS 2020
Aktivieren Sie unsere intelligente Suche, um passende Fachinhalte oder Patente zu finden.
Wählen Sie Textabschnitte aus um mit Künstlicher Intelligenz passenden Patente zu finden. powered by
Markieren Sie Textabschnitte, um KI-gestützt weitere passende Inhalte zu finden. powered by