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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 5/2020

03.10.2020

Role of the Pulse Repetition Rate when Assessing Electromagnetic Immunity of Electronic Devices

verfasst von: Yury Parfenov, Vladimir Chepelev, Yu-hao Chen, Yan-zhao Xie

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 5/2020

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Abstract

Considering the shortcomings of the existing test methods, this paper provides a new procedure for validating the requirements on the repetition rate of repeating electromagnetic pulses when assessing the electromagnetic immunity of electronic devices. The pulse repetition rate should not be chosen arbitrarily, but should be consistent with the properties of the device under test. Two examples of a 60 W electrical power unit and a “Panasonic” video camera are presented to validate the conclusion in the paper.
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Metadaten
Titel
Role of the Pulse Repetition Rate when Assessing Electromagnetic Immunity of Electronic Devices
verfasst von
Yury Parfenov
Vladimir Chepelev
Yu-hao Chen
Yan-zhao Xie
Publikationsdatum
03.10.2020
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 5/2020
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-020-05908-y

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