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Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 2/2010

01.02.2010

Saturation magnetization and structural analysis of Ni0.6Zn0.4Nd y Fe2−y O4 by XRD, IR and SEM techniques

verfasst von: T. J. Shinde, A. B. Gadkari, P. N. Vasambekar

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 2/2010

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Abstract

Compositions having general formula Ni0.6Zn0.4Nd y Fe2−y O4 (where y = 0, 0.01, 0.02 and 0.03) were prepared by oxalate co-precipitation method from high purity sulphates. The samples were characterized by XRD, IR and SEM techniques. X-ray diffraction measurements confirmed the formation of single phase cubic spinel structure. Lattice constant increases with rise in Nd3+ content and obeys Vegard’s law. Crystallite size of the samples lies in the range 29.98–31.15 nm. The IR spectra shows two strong absorption bands in the frequency range 400–600 cm−1. Further, it shows that Nd3+ occupies B-site. SEM studies show that the grain size of the samples decreases with increase in Nd3+ content. Saturation magnetization of Nd3+ substituted Ni–Zn ferrites is higher than unsubstituted ferrite.

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Literatur
3.
Zurück zum Zitat A. Goldman, Am. Ceram. Soc. Bull. 63, 582 (1984) A. Goldman, Am. Ceram. Soc. Bull. 63, 582 (1984)
7.
Zurück zum Zitat M. Chakrabarti, D. Sanyal, A. Chakrabarti, J. Phys. Condens. Mater. 19, 236210 (2007)CrossRefADS M. Chakrabarti, D. Sanyal, A. Chakrabarti, J. Phys. Condens. Mater. 19, 236210 (2007)CrossRefADS
9.
Zurück zum Zitat M.I. Rosales, E. Amano, M.P. Cautle, R. Valenzuela, Mater. Sci. Engi. B 49, 221 (1997)CrossRef M.I. Rosales, E. Amano, M.P. Cautle, R. Valenzuela, Mater. Sci. Engi. B 49, 221 (1997)CrossRef
10.
12.
Zurück zum Zitat M.M. Rashad, R.M. Mohamad, H. El-shall, J. Mater. Proc. Tech. 198(1-3), 139 (2008)CrossRef M.M. Rashad, R.M. Mohamad, H. El-shall, J. Mater. Proc. Tech. 198(1-3), 139 (2008)CrossRef
13.
Zurück zum Zitat A.E. Virden, K.O. Grady, J. Magn. Magn. Mater. 868, 290 (2005) A.E. Virden, K.O. Grady, J. Magn. Magn. Mater. 868, 290 (2005)
14.
Zurück zum Zitat T.J. Shinde, A.B. Gadkari, P.N. Vasambekar, Mater. Chem. Phys. 111(1), 87 (2008)CrossRef T.J. Shinde, A.B. Gadkari, P.N. Vasambekar, Mater. Chem. Phys. 111(1), 87 (2008)CrossRef
15.
Zurück zum Zitat B.D. Cullity, Elements of X-ray diffraction (Addison–Wesley Pub. Co. Inc., 1956), p. 42 B.D. Cullity, Elements of X-ray diffraction (Addison–Wesley Pub. Co. Inc., 1956), p. 42
16.
Zurück zum Zitat F. Xiufeng, R. Huping, Z. Yanghuan, G. Shihai, W. Xinlin, Rare. Metals. 27(3), 287 (2008)CrossRef F. Xiufeng, R. Huping, Z. Yanghuan, G. Shihai, W. Xinlin, Rare. Metals. 27(3), 287 (2008)CrossRef
17.
Zurück zum Zitat K.J. Standley, Oxide Magnetic Materials (Oxford at Clearendon press, London, 1962), p. 24 K.J. Standley, Oxide Magnetic Materials (Oxford at Clearendon press, London, 1962), p. 24
18.
Zurück zum Zitat M.U. Islam, I. Ahmad, T. Abbas, Proceedings of the 6th International Symposium. on Adva. Mater. 155 (1999) M.U. Islam, I. Ahmad, T. Abbas, Proceedings of the 6th International Symposium. on Adva. Mater. 155 (1999)
19.
Zurück zum Zitat H.P. Klug, L.E. Alexander, X-ray diffraction procedure (Wiley Inter. Sci, New York, 1954), p. 5041 H.P. Klug, L.E. Alexander, X-ray diffraction procedure (Wiley Inter. Sci, New York, 1954), p. 5041
21.
Zurück zum Zitat G. Chandrasekaran, S. Selvandan, K. Manivannane, J. Mater. Sci.: Mater. Electron. 15, 15 (2004)CrossRef G. Chandrasekaran, S. Selvandan, K. Manivannane, J. Mater. Sci.: Mater. Electron. 15, 15 (2004)CrossRef
22.
Zurück zum Zitat B.P. Ladgaonkar, C.B. Kolekar, A.S. Vaingankar, Bull. Mater. Sci. 25(4), 351 (2002)CrossRef B.P. Ladgaonkar, C.B. Kolekar, A.S. Vaingankar, Bull. Mater. Sci. 25(4), 351 (2002)CrossRef
23.
24.
25.
Zurück zum Zitat R.V. Upadhyay, R.V. Mehta, K. Parekh, D. Srinivas, R.P. Pant, J. Magn. Magn. Mater. 201, 129 (1999)CrossRefADS R.V. Upadhyay, R.V. Mehta, K. Parekh, D. Srinivas, R.P. Pant, J. Magn. Magn. Mater. 201, 129 (1999)CrossRefADS
26.
Zurück zum Zitat N. Rezlescu, E. Rezlescu, C. Pasnicu, M.L. Craus, J. Magn. Magn. Mater. 136, 319 (1994)CrossRefADS N. Rezlescu, E. Rezlescu, C. Pasnicu, M.L. Craus, J. Magn. Magn. Mater. 136, 319 (1994)CrossRefADS
Metadaten
Titel
Saturation magnetization and structural analysis of Ni0.6Zn0.4Nd y Fe2−y O4 by XRD, IR and SEM techniques
verfasst von
T. J. Shinde
A. B. Gadkari
P. N. Vasambekar
Publikationsdatum
01.02.2010
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 2/2010
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-009-9878-3

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