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Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 8/2016

30.04.2016

Synthesis of Cu/Fe bilayers: micro structure and optical properties

verfasst von: Rostam Moradian, Atefeh Ghaderi, Seyed Mohammad Elahi

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 8/2016

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Abstract

Cu/Fe thin films were prepared by DC-Magnetron Sputtering system using Cu and Fe targets at room temperature and in the optimized conditions of power and pressure. Using 2 and 3 dimensional atomic force microscope images the surface morphology of samples were studied. The effect of introducing Fe to Cu layer was clearly seen from nanoparticles’ size. UV–visible spectroscopy was applied to investigate the optical properties. The absorption coefficient, the refractive and the absorption indices of thin films at different wavelengths were obtained using reflectance and transmittance spectra. Band gap studies show that when Fe atoms added to Cu layer the amounts of band gap decreases in thicker layers.
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Metadaten
Titel
Synthesis of Cu/Fe bilayers: micro structure and optical properties
verfasst von
Rostam Moradian
Atefeh Ghaderi
Seyed Mohammad Elahi
Publikationsdatum
30.04.2016
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 8/2016
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-016-4793-x

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