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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 4-6/2006

01.12.2006

Test Development Through Defect and Test Escape Level Estimation for Data Converters

verfasst von: Carsten Wegener, Michael Peter Kennedy

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 4-6/2006

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Metadaten
Titel
Test Development Through Defect and Test Escape Level Estimation for Data Converters
verfasst von
Carsten Wegener
Michael Peter Kennedy
Publikationsdatum
01.12.2006
Verlag
Kluwer Academic Publishers
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 4-6/2006
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-006-9457-y

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