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Journal of Electronic Testing

Erschienen in:

01.04.2004

Testability Trade-Offs for BIST Data Paths

verfasst von: Nicola Nicolici, Bashir M. Al-Hashimi

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 2/2004

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Titel: Testability Trade-Offs for BIST Data Paths
verfasst von: Nicola Nicolici
Bashir M. Al-Hashimi
Publikationsdatum: 01.04.2004
Verlag: Kluwer Academic Publishers
Erschienen in: Journal of Electronic Testing / Ausgabe 2/2004
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI: https://doi.org/10.1023/B:JETT.0000023680.46155.65

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