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Austausch von Automobil- und Energiewirtschaft

Am 14./15. Mai geht es in Chemnitz um die Mobilitätswende durch Elektro- und Wasserstofffahrzeuge.
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Journal of Electronic Testing

Ausgabe 2/2004

Inhalt (10 Artikel)

Editorial Introduction

Editorial

Vishwani D. Agrawal

Editorial Board

New Editorial Board Members

Test Technology Technical Council Newsletter

P. Prinetto

A Design for Testability Scheme for CMOS LC-Tank Voltage Controlled Oscillators

L. Dermentzoglou, Y. Tsiatouhas, A. Arapoyanni

Analog Switches in Programmable Analog Devices: Quiescent Defective Behaviours

R. Rodríguez-Montañés, D. Muñoz, L. Balado, J. Figueras

A Low-Cost At-Speed BIST Architecture for Embedded Processor and SRAM Cores

M.H. Tehranipour, S.M. Fakhraie, Z. Navabi, M.R. Movahedin

Testability Trade-Offs for BIST Data Paths

Nicola Nicolici, Bashir M. Al-Hashimi

Scalable Delay Fault BIST for Use with Low-Cost ATE

Ilia Polian, Bernd Becker

Analysis of Test Application Time for Test Data Compression Methods Based on Compression Codes

Anshuman Chandra, Krishnendu Chakrabarty

Scan Latch Design for Test Applications

Amit M. Sheth, Jacob Savir

Feb 04
Ausgabe: 1/2004
Jun 04
Ausgabe: 3/2004

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