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Erschienen in: Microsystem Technologies 4/2017

22.01.2016 | Technical Paper

The analysis of the self-oscillation system for resonant pressure sensor

verfasst von: Xiaodong Sun, Weizheng Yuan, Dayong Qiao, Sen Ren

Erschienen in: Microsystem Technologies | Ausgabe 4/2017

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Abstract

In this paper a detailed analysis on the self-oscillation system that is used for the resonant pressure sensor is presented. The stability and transient response of the system are investigated through a theoretical model, which is verified by experiment. This analysis provides an approach to optimize the parameters of the control system to get a short settling time and a stable system in the full pressure scale. The sensor chip is fabricated using a commercially available silicon-on-insulator wafer. By optimizing the parameters, the self-oscillation system for the sensor works well and the setting time is less than 300 ms in full pressure scale. The calibration result shows that the resonant pressure sensor has a nonlinearity of 0.045 %FS, a hysteresis error of 0.14 %FS, and a repeatability error of 0.18 %FS.

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Literatur
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Metadaten
Titel
The analysis of the self-oscillation system for resonant pressure sensor
verfasst von
Xiaodong Sun
Weizheng Yuan
Dayong Qiao
Sen Ren
Publikationsdatum
22.01.2016
Verlag
Springer Berlin Heidelberg
Erschienen in
Microsystem Technologies / Ausgabe 4/2017
Print ISSN: 0946-7076
Elektronische ISSN: 1432-1858
DOI
https://doi.org/10.1007/s00542-016-2818-2

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