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01.08.2013 | Ausgabe 4/2013

Journal of Electronic Testing 4/2013

Timing-Error-Detecting Dual-Edge-Triggered Flip-Flop

Zeitschrift:
Journal of Electronic Testing > Ausgabe 4/2013
Autoren:
Kazuteru Namba, Takashi Katagiri, Hideo Ito
Wichtige Hinweise
The earlier version of this paper was presented at the 25th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT’12).

Abstract

This paper presents a construction of timing-error-detecting dual-edge-triggered flip-flops (DET-FFs). The proposed FF is based on a conventional DET-FF and a conventional timing error detection method. While the conventional timing error detection uses a transition detector with relatively large area, the proposed FF uses internal signals in a DET-FF as as an alternative to the transition detector. This paper also shows an evaluation result indicating that the proposed FF has smaller area overhead than the simple combination of the conventional DET-FF and timing error detection methods.

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