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Journal of Materials Science: Materials in Electronics
Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics 23/2018

08.10.2018 | Review

Valence-band offsets of InGaZnO4, LaAlO3, and SrTiO3 heterostructures explained by interface-induced gap states

verfasst von: Winfried Mönch

Erschienen in: Journal of Materials Science: Materials in Electronics | Ausgabe 23/2018

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Abstract

The intrinsic interface-induced gap states (IFIGS) which derive from the virtual gap states of the complex band structure are the fundamental mechanism that determines the band-structure lineup at semiconductor interfaces. The valence-band offsets of heterostructures are composed of a zero-charge-transfer term and an electrostatic-dipole contribution which are given by the difference of the p-type branch-point energies of the IFIGS and of the electronegativities, respectively, of the two semiconductors involved. The valence-band offsets of InGaZnO4, LaAlO3, and SrTiO3 heterostructures are quantitatively and consistently explained by the IFIGS-and-electronegativity concept. The analysis of the experimental InGaZnO4, LaAlO3, and SrTiO3 data yields the p-type branch-point energies as 2.37 ± 0.18 eV, 2.59 ± 0.13 eV, and 2.86 ± 0.14 eV, respectively.
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Metadaten
Titel
Valence-band offsets of InGaZnO4, LaAlO3, and SrTiO3 heterostructures explained by interface-induced gap states
verfasst von
Winfried Mönch
Publikationsdatum
08.10.2018
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Materials Science: Materials in Electronics / Ausgabe 23/2018
Print ISSN: 0957-4522
Elektronische ISSN: 1573-482X
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-018-0161-3

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