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1985 | OriginalPaper | Buchkapitel

Vereinfachte D.I.M.-Verzerrungsmessung Nach dem Rechteck/Sinusverfahren

verfasst von : P. Skritek

Erschienen in: Mikroelektronik in Österreich

Verlag: Springer Vienna

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Die Messung nichtlinearer Verzerrungen im Audiofrequenzbereich mittels Rechteck/Sinus- oder Dreieck/Sinus-Verfahren vereinfacht sich beträchtlich, wenn nur das resultierende tieffrequente Intermodulationsspektrum bewertet wird. Als Empfangsfilter genügt ein Tiefpaßfilter anstelle des selektiven Voltmeter oder Spektrumanalysators mit hoher Auflösung. Der Prototyp eines entsprechenden Meßgeräts wurde realisiert und Vergleichsmessungen durchgeführt, welche für Rechteck/Sinus- Messung eine sehr gute Übereinstimmung mit dem ursprünglichen Verfahren zeigen.

Metadaten
Titel
Vereinfachte D.I.M.-Verzerrungsmessung Nach dem Rechteck/Sinusverfahren
verfasst von
P. Skritek
Copyright-Jahr
1985
Verlag
Springer Vienna
DOI
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-8821-7_53

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