1985 | OriginalPaper | Buchkapitel
Vereinfachte D.I.M.-Verzerrungsmessung Nach dem Rechteck/Sinusverfahren
verfasst von : P. Skritek
Erschienen in: Mikroelektronik in Österreich
Verlag: Springer Vienna
Enthalten in: Professional Book Archive
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Die Messung nichtlinearer Verzerrungen im Audiofrequenzbereich mittels Rechteck/Sinus- oder Dreieck/Sinus-Verfahren vereinfacht sich beträchtlich, wenn nur das resultierende tieffrequente Intermodulationsspektrum bewertet wird. Als Empfangsfilter genügt ein Tiefpaßfilter anstelle des selektiven Voltmeter oder Spektrumanalysators mit hoher Auflösung. Der Prototyp eines entsprechenden Meßgeräts wurde realisiert und Vergleichsmessungen durchgeführt, welche für Rechteck/Sinus- Messung eine sehr gute Übereinstimmung mit dem ursprünglichen Verfahren zeigen.