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Journal of Electronic Testing
Erschienen in: Journal of Electronic Testing 2/2017

07.03.2017

VI-Based Measurement System Focusing on Space Applications

verfasst von: L. E. Seixas, Jr, S. Finco, S. P. Gimenez

Erschienen in: Journal of Electronic Testing | Ausgabe 2/2017

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Abstract

This article describes in detail a custom, high-performance, compact, flexible and reconfigurable test equipment. This measurement system is able to perform, locally or remotely, the electrical characterization of semiconductor devices and integrated circuits (ICs) under ionizing irradiation tests. This measurement platform can be managed remotely through serial, Local Network Area (LAN) link, allowing the electrical characterization of these devices in harsh test environments. Using this customized test measurement system, we were capable to reduce total test time by 1/3 in our TID test application.
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Metadaten
Titel
VI-Based Measurement System Focusing on Space Applications
verfasst von
L. E. Seixas, Jr
S. Finco
S. P. Gimenez
Publikationsdatum
07.03.2017
Verlag
Springer US
Erschienen in
Journal of Electronic Testing / Ausgabe 2/2017
Print ISSN: 0923-8174
Elektronische ISSN: 1573-0727
DOI
https://doi.org/10.1007/s10836-017-5651-3

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