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Erschienen in: Semiconductors 16/2019

01.12.2019 | NANOSTRUCTURES TECHNOLOGY

XAFS Investigation of Nanoparticle Formation in 64Zn+ Ion Implanted and Thermo Oxidized Quartz

verfasst von: E. V. Khramov, V. V. Privezentsev, A. N. Palagushkin

Erschienen in: Semiconductors | Ausgabe 16/2019

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Abstract

The silica glass substrates were implanted by 64Zn+ ions with dose of 5 × 1016 cm−2 and energy of 50 keV. During implantation the ion beam current density was less than 0.5 μA/cm2 to avoid the substrate magnetically heating. After implantation, the substrates were subjected to isochronous for 1h heat treatment in oxygen atmosphere at temperature range from 400 up to 1000oC with a step of 100oC. Zn K-edge EXAFS spectra were measured in fluorescent mode. According to Zn K-edge EXAFS data, Zn in as implanted state and after oxidation at 800oC is fully oxidized and surrounded by O atoms with coordination number of 4. However, in as implanted state there were disordered orientation of Zn atoms, and ordered tetrahedral coordination occurs only after heat treatment at 800oC.

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Metadaten
Titel
XAFS Investigation of Nanoparticle Formation in 64Zn+ Ion Implanted and Thermo Oxidized Quartz
verfasst von
E. V. Khramov
V. V. Privezentsev
A. N. Palagushkin
Publikationsdatum
01.12.2019
Verlag
Pleiades Publishing
Erschienen in
Semiconductors / Ausgabe 16/2019
Print ISSN: 1063-7826
Elektronische ISSN: 1090-6479
DOI
https://doi.org/10.1134/S1063782619120145

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